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波前分析仪+波前测试仪+波前传感器剪切干涉仪

PHASICS波前探测器

Phasics公司利用革新的技术研发的SID4波前探测器，该仪器能够提供高分辨率的相位图，可直接测量高发散光束，光路调整方便等特点。

1. 技术特点

◆高分辨率（高达300 x400个采样点)

◆消色差

◆高动态范围

◆高灵敏度

◆操作简便

◆设计简洁紧凑

◆高性价比

2.技术优势

◆高分辨率的相位图

能够提供高分辨率的相位图。标准分辨率为160ｘ120个采样点，最高分辨率可达400ｘ300。高分辨率的探测器能精确测量镜片像差，并能做到较高的测量重复性。

◆具有直接测量高发散光束的能力

我们的波前探测技术具有直接测量光路系统相差的能力，并且无需额外的过渡镜（参见下图）。校准后的光束通过镜片后直接测试。探测器可以测量波前传输时球面波的偏差。尽管有极大的光束偏差（如数值孔径高达0.75），仍然可以做到光路系统与探测器间不使用过渡镜就能测试。

SID4波前探测器

测试条件下光路系统

光源

准直镜

◆消色差

SID4探测器能够匹配CCD整个探测范围，用于不同波长光而无需额外校准，也能用于多色光源。

◆对准方便

SID4探测器无需精确的，很繁冗的校准步骤。分析算法为校准波前探测器提供便利。当布好探测器和光源后，光路系统测试部分可以直接放在光源和SID4探测器之间。并且，也可以很容易的调整光路系统以便于测试，还省去了使用过渡镜以及用它带来的光路位置调整和相差消除的麻烦。

◆符合人体工程学原理

设计紧凑的SID4探测器配置了电脑和专用KALEO软件，其友好的人机界面使光学测量过程更符合人体工程学原理。

◆光学测量专用的KALEO软件

SID4探测器为光学测量配置了专用的Kaleo软件。该软件允许在一次测量中提供完整的测量项目的光学量值特征：相差，PSF，MTF，有效焦距等。定制的特征报告也可编辑。

3. 产品介绍

4. SID4&SID4-HR参数说明

	SID4	SID4-HR
孔径	3,6 x 4,8 mm²	8,9 x 11,8 mm²
空间分辨率	29,6 µm	29,6 µm
采样点/测量点	160 x 120 ( >19000 points)	400 x 300 ( >120 000 points)
波长	350 nm - 1100 nm	350 nm - 1100 nm
动态范围	> 100 µm	> 500 µm
绝对模式下精度	10 nm RMS	10 nm RMS
灵敏度	3 nm RMS	2 nm RMS
采样频率	60 fps	10 fps
重建频率	> 10Hz (高分辨率)	> 3Hz (高分辨率)
尺寸	49 x 35 x 110 mm	76 x 63 x 132 mm
重量	250 g	620 g

您需要高精度波前传感器？

特有的校准技术和极高的微透镜阵列质量确保了真正的波前绝对测量和极佳的波前测量精度（λ/100 RMS～λ/1000 RMS）

其应用于光学计量以及激光束计量领域：
> 在光学计量领域提供服务
> 提供用于激光应用、特殊显微镜方面相适应的光学解决方案
> 提供车辆铁路动能测量、雷达速度测量、惯性导航仪测量等一系列测量设备

Shack-Hartmann (SH) 波前传感器在自适应光学中广泛使用。它的基本原理是把波前划分为若干个子孔径,在各个子孔径上分别测量两个正交方向上的波前偏导值,即波前斜率,然后根据子孔径上的波前斜率进行波前复原计算,得到整孔径上的波前位相.

为二十一世纪的天文学研究而建造的大型地面望远镜和望远镜干涉仪中，自适应光（AO）领域的波前传感技术已经成了重要组成部分。通常，这些大型望远镜中的自适应光学系统是采用Shack-Hartmann波前传感、弯曲波前传感或者锥形波前传感这三种方法之一来测量由大气湍流引起的波前偏差。这三种方法都需要低噪声，由于分辨率和成像相干性的提高，建造大型望远镜和望远镜干涉仪成为可能。

Shack-Hartmann波前分析仪

产品特点及优势
动态光斑追踪及定位软件使之拥有极高的波前测量动态范围（高可达1500λ）
特有的校准技术和极高的微透镜阵列质量确保了真正的波前绝对测量和极佳的波前测量精度（λ/100 RMS～λ/1000 RMS）
空间分辨率（128×128）、测量动态范围与测量精度，三者优化结合。
测量波长范围广：0.3nm～1600nm均有产品
能够同时，时时测量相位与强度
可以直接测量发散光或会聚光的波前
可以测量PST、MTF、M2和Strehl ratio等参数
Zonal和Modal波前重构

主要性能指标

激光领域应用
激光光束性能测试

展示

激光器生产
激光器优化

自适应光学

高能量激光
多光子显微镜
空间光通讯

展示

光束整形

光镊子
激光打标
2. 光学元器件性能测试

透镜性能测试

标准透镜
非球面透镜
展示

此外，还有提供

参考光源
配套的二维旋转平台和五维旋转平台
整套自适应光学系统

波前传感器
各种变形镜
自适应光学软件包（闭环软件、变形镜驱动软件和DLL动态连接库等）
光学度量系统

半导体晶片质量测量仪
大表面积（>1m）器件表面测量装置（如：对同步加速器的测量）
液态透镜和小尺寸光学器件（典型值：1～4mm）质量控制仪
为客户提供系统开发

http://www.rayscience.com/phasics_SID4.pdf

常见问题FAQ:

1问: PHASICS波前分析仪原理？
答: “多距离干涉仪”创新技术的高分辨率波前分析仪，其应用在光学测量学中（光学特性和表面分析系统）；也应用在激光测量学中（分析仪和相适应的光学环）；同样应用在生物领域（成像相位）等

2 问: 法国PHASICS公司的波前探测器技术优势？

法国PHASICS公司的波前探测器系统SID4，基于剪切干涉原理，是改良的哈特曼，空间分辨率大大提升；
高空间分辨率；全波段测量：190nm --- 14 um, 可测量红外系统波前，3-5um、8-14um；大动态范围，可直接测量非球面

3 问: 波前分析仪的可测试参数？
答: 强度和相位分布倾斜，离焦，像散，慧差，高阶相差等等光束孔径大小，形状，指向，振幅分布。光腰（大小及位置）与发散角光束质量(M2及Strehl系数)近场及远场分析，MTF分析。

4 问: 波前分析仪的分辨率？

	SID4	SID4-HR
孔径	3,6 x 4,8 mm²	8,9 x 11,8 mm²
空间分辨率	29,6 µm	29,6 µm

5.问: 有那些用户在使用PHASICS波前分析仪？

答: 我们的客户遍及世界很多国家和地区,PHASICS波前分析仪在全世界有着广泛的应用,您可以找到很多用PHASICS波前分析仪的应用论文。在国内知名用户有中科院物理所,上海光机所,某大型国际几研究院等等。另外还有很多光学系统设计公司与系统集成企业购买了PHASICS波前分析仪。

波前测试仪波前传感器波前分析仪剪切干涉仪

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PHASICS波前分析仪/波前探测器/剪切干涉仪

法国PHASICS公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析仪相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析，眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案！

KaleoMTF for R&D

The KaleoMTF bench performs automated off-axis MTF and wavefront error measurements at multiple wavelengths. It also measures aberrations (Zernike coefficients), through focus MTF, distortion, EFL… All results are given in the lens exit pupil for accurate

KaleoMultiWAVE

The Kaleo-MultiWAVE bench is a unique instrument that delivers wavefront error at multiple wavelengths. Optics such as lenses, filters or mirrors can be characterized at their working wavelength. The KaleoMultiWAVE works at different wavelengths to perfor

法国Phasics--高分辨率波前分析仪/波前传感器/剪切干涉仪

法国PHASICS公司自主研发的波前传感器、波前分析仪、波前探测器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析仪相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析，眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案！

SID4 UV

COST-EFFECTIVE UV WAVEFRONT SENSOR | High resolution (62 500 phase pixels)

Kaleo MTF Measurement Station

Phasics innovative solution delivers the most complete lens characterization: off-axis MTF and wavefront error at multiple wavelengths. It benefits from Phasics patented technology to provide accurate results even for large Field of View (FoV). Kaleo MTF

SID4 SWIR-HR

HIGH RESOLUTION + HIGH SENSITIVITY | for shortwave infrared

SID4

HIGH RESOLUTION WAVEFRONT SENSOR | 400-1100 nm

Kaleo i

The Kaleo-I instrument is especially designed for the quality control of refractive intraocular lens, whether spherical, aspheric, toric or bifocal. It achieves fast and reliable measurements thanks to the integration of our high resolution wavefront sens

SID4 DWIR

Phasics introduces the first off-the-shelf high resolution wave front sensor for dual band infrared from 3 to 5 µm and 8 to 14 µm. The SID4 DWIR measures laser beam at 3.39µm and 10.6µm or source of any wavelength in between 3-5 µm and 8-14 µm such as bla

Kaleo IR

Phasics bench makes infrared lens quality control very simple. IR MTF is obtained in a single shot at all frequencies with no need for scanning or complex alignment. All wavefront aberrations are also provided with this single acquisition. The Kaleo IR Be

SID4-sC8

Designed for life science and material inspection microscopes, SID4-sC8 brings fast, accurate and truly quantitative phase measurement in a compact, plug-and-play solution. Biologists will benefit from label-free cell imaging, high sensitivity and automat

SID4 LWIR

HIGH RESOLUTION PHASE & INTENSITY | in the far infrared region

SID4 SWIR

COST-EFFECTIVE | HIGH RESOLUTION + HIGH SENSITIVITY |for shortwave infrared

SID4-eSWIR

HIGH RESOLUTION EXTENDED SWIR WAVE FRONT SENSOR

SID4Bio

The SID4Bio is a plug & play camera for quantitative phase imaging. It works with any microscope and enables measuring valuable numerical parameters on live cells.

SID4 Element

ADVANCED ADD-ON | for quantitative phase microscopy

SID4 V Vacuum

Phasics is innovating by proposing the first off-the-shelf vacuum compatible wavefront sensor on the market. The SID4 V is designed to perform wavefront measurements under high vacuum. the wavefront measurement is realized in-situ in the same condition as

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