__空间光调制器|波前测试仪|变形镜|激光器瞬渺

QFBGLD-808-100 FBG激光二极管波长808nm

半导体行业专用CDE ResMap 四点探针

CDE　ResMap–CDE　公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的

ERIS纯相位型空间光调制器

ERIS 纯相位空间光调制器是基于液晶微显示技术，分辨率可达 1920x1200 像素。像元大小 8μm。 ERIS纯相位空间光调制器提供可见光波段和通信波段的型号可供选择，覆盖从 400nm 到 1600nm 的波长。具有极高的相位稳定性、低延迟和低串扰

GAEA-2 千万级像素(4094 x 2464 )纯相位空间光调制器

GAEA-2 纯相位空间光调制器是基于液晶微显示技术，分辨率可达 4094x2464 像素。像元大小3.74μm，GAEA-2 有针对不同应用不同波段的型号

Filmetrics光学膜厚测量仪_电池片厚度测试

美国Filmetrics光学膜厚测量仪，利用反射干涉的原理进行无损测量，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速，操作简单，界面友好，是目前市场上最具性价比的膜厚测量仪设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的，透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。F20、F30、F40、F50

光伏适用电化学ECV 掺杂浓度检测电化学CV分布仪（CV测试仪）电化学CV剖面分析仪电化学CV载流子浓度

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太阳能电池量子效率测试系统：太阳能电池量子效率测量系统（光谱响应测试系统、IPCE测试系统），广泛应用于各种太阳能电池包括单结、多结薄膜太阳能电池的SR光谱响应，EQE外量子效率，IQE内量子效率，IPCE，相对反射率，绝对反射率，相对透射率，绝对透射率等测量和研究；匹配国际测试标准：IEC 60904-8, & ASTM E1021-(2001)测试标准；波长范围：300nm~1100nm, 可扩展至1800 nm