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 | 少子寿命测量仪BLS-测试硅棒少子寿命测量仪BLS-I 用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量，除需要有一个测量平面外，对样块\r \r 体形无严格要求，可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体\r \r 内重金属杂质污染及缺陷存在的情况，是单晶质量的重要检测项目。 |
 | Alpao波前传感器Alpao夏克哈特曼（Shack-Hartmann）波前传感器（WFS）是专门为自适应光学系统设计的。 |
 | ESS-200XIL 太阳光模拟器ESS-200XIL 太阳光模拟器 ESS-200XIL太阳光模拟器使用精确校准的光源，模拟自然太阳光照射。同I-V曲线测试仪配合可作为室内太阳能电池测试系统。 |
 | 非接触式电阻率测试仪 Contactless Resistivity Systems非接触式电阻率测试仪 Contactless Resistivity Systems |
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 | WCT-IL800快速在线监测。实现了准确监控少子寿命，方块电阻和缺陷密度的情况。 |
 | 台阶仪ET200/台阶仪日本KOSAKA 台阶仪ET200：KOSAKA ET 200基于Windows XP操作系统为多种不同表面提供全面的形貌分析，包括半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石（钻石）****接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用。ET 200能精确可靠地测量出表面台阶形貌、粗糙度、波纹度、磨损度、薄膜应力等多种表面形貌技术参数。 |
 | FMT_CCT这个电池测量系统具有很高精确度，用来测量高效率太阳电池。它用一个专利的频闪技术实现。 |
 | 脉冲激光沉积系统 (PLD)脉冲激光沉积系统 (PLD) |
 | FPS-300闪光电源The FPS-300 is a new flash power supply designed to replace the Quantum power supply stack and flash\r head. |
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 | SBS-150 少子寿命SBS-150 少子寿命 测量生长块的是获得最终晶圆少子寿命的最好办法.SBS-150体硅少子寿命分析仪对硅锭生长方向上的少子寿命变化特别敏感，能否准确预测切割出的硅片的质量和缺陷状态。 |
 | Ushio 测试灯UXL-10S，UXL-16SUshio 测试灯UXL-10S，UXL-16S日本USHIO UXL-16S 氙灯 ，球形氙灯 ，产品简介:日本USHIO UXL-16S 氙灯 ，球形氙灯 该短弧氙灯主要应用在：太阳能光伏企业的日本进口NPC品牌的太阳能电池片 |
| | OKO自适应光学OKO公司波前传感器的原理是基于Shack -Hatmann，现在主要提供四种类型的波前传感器，用户还可以根据实际需求定制不用微透镜阵列或者不同CCD的波前传感器。 |
| | Night N自适应光学相关产品闭环自适应光学系统是用来纠正低阶激光光束产生的波前畸变。该系统是利用压电式变形镜作为波前校正器，利用Shack-Hartman波前传感器作为波前测量，闭环软件来控制整套校正系统。 |