__空间光调制器|波前测试仪|变形镜|激光器瞬渺

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半导体行业专用CDE ResMap 四点探针

CDE　ResMap–CDE　公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的

ESS-200XIL 太阳光模拟器

ESS-200XIL 太阳光模拟器 ESS-200XIL太阳光模拟器使用精确校准的光源，模拟自然太阳光照射。同I-V曲线测试仪配合可作为室内太阳能电池测试系统。

太阳能电池量子效率测试系统：太阳能电池量子效率测量系统（光谱响应测试系统、IPCE测试系统），广泛应用于各种太阳能电池包括单结、多结薄膜太阳能电池的SR光谱响应，EQE外量子效率，IQE内量子效率，IPCE，相对反射率，绝对反射率，相对透射率，绝对透射率等测量和研究；匹配国际测试标准：IEC 60904-8, & ASTM E1021-(2001)测试标准；波长范围：300nm~1100nm, 可扩展至1800 nm

FPS-300闪光电源

The FPS-300 is a new flash power supply designed to replace the Quantum power supply stack and flash\r head.

suns-Voc测试仪

suns-Voc测试仪:利用Suns-Voc进行浆料与烧结技术优化，主要测试IV曲线

少子寿命测量仪BLS-测试硅棒

少子寿命测量仪BLS-I 用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量，除需要有一个测量平面外，对样块\r \r 体形无严格要求，可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体\r \r 内重金属杂质污染及缺陷存在的情况，是单晶质量的重要检测项目。

FMT_CCT

这个电池测量系统具有很高精确度，用来测量高效率太阳电池。它用一个专利的频闪技术实现。

WCT-IL800

快速在线监测。实现了准确监控少子寿命，方块电阻和缺陷密度的情况。

ECV校准硅片

ECV校准硅片 CVP-CS

太阳能板检测专用数码相机－太阳能电池检测相机,高灵敏致冷CCD相机

Spectral Response / Quantum Efficiency / IPCE Measurement Systems

日照强度计，带有空气流通系统

日照强度计MS-802/402/602用于测量大气中接受到的太阳照射能量。传感器采用对全波段都有平整光谱响应的温差热电堆。当日照辐射被传感器的黑体表面吸收，由于冷/热连接点的温差导致热-电效应，热电堆产生电信号。

SBS-150 少子寿命

SBS-150 少子寿命测量生长块的是获得最终晶圆少子寿命的最好办法.SBS-150体硅少子寿命分析仪对硅锭生长方向上的少子寿命变化特别敏感，能否准确预测切割出的硅片的质量和缺陷状态。

微波反射光电导衰退法少子寿命分析仪

太阳能晶片检测

太阳能晶片检测：

非接触式电阻率测试仪 Contactless Resistivity Systems

扩展电阻仪 (SRP)

SRP (Spreading Resistance Profiling) 扩展电阻测试系统是用一对专用的点接触探针，沿着样品表面以很小的增量步进，测出每一点的扩展电阻值，绘出样品的电阻、电阻率和掺杂浓度的分布曲线。利用SRP法不仅可以得到外延层的电阻率分布等电学性质，而且可以确定外延层的厚度和界面杂质的过渡区分布。

Filmetrics光学膜厚测量仪_电池片厚度测试

美国Filmetrics光学膜厚测量仪，利用反射干涉的原理进行无损测量，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速，操作简单，界面友好，是目前市场上最具性价比的膜厚测量仪设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的，透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。F20、F30、F40、F50

台阶仪ET200/台阶仪

日本KOSAKA 台阶仪ET200：KOSAKA ET 200基于Windows XP操作系统为多种不同表面提供全面的形貌分析，包括半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石（钻石）****接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用。ET 200能精确可靠地测量出表面台阶形貌、粗糙度、波纹度、磨损度、薄膜应力等多种表面形貌技术参数。