__空间光调制器|波前测试仪|变形镜|激光器瞬渺

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半导体行业专用CDE ResMap 四点探针

CDE　ResMap–CDE　公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的

太阳能电池量子效率测试系统：太阳能电池量子效率测量系统（光谱响应测试系统、IPCE测试系统），广泛应用于各种太阳能电池包括单结、多结薄膜太阳能电池的SR光谱响应，EQE外量子效率，IQE内量子效率，IPCE，相对反射率，绝对反射率，相对透射率，绝对透射率等测量和研究；匹配国际测试标准：IEC 60904-8, & ASTM E1021-(2001)测试标准；波长范围：300nm~1100nm, 可扩展至1800 nm

微波反射光电导衰退法少子寿命分析仪

FMT_CCT

这个电池测量系统具有很高精确度，用来测量高效率太阳电池。它用一个专利的频闪技术实现。

Ushio 测试灯UXL-10S，UXL-16S

Ushio 测试灯UXL-10S，UXL-16S日本USHIO UXL-16S 氙灯，球形氙灯，产品简介:日本USHIO UXL-16S 氙灯，球形氙灯该短弧氙灯主要应用在：太阳能光伏企业的日本进口NPC品牌的太阳能电池片

Jandel通用型四探针测试仪 4探针测试系统（4 point probe measurement system)

FPS-300闪光电源

The FPS-300 is a new flash power supply designed to replace the Quantum power supply stack and flash\r head.

少子寿命测试仪闪光灯 sinton BLS-1 lifetime(设备易损配件）

少子寿命测试仪闪光灯泡 sinton wct-120 lifetime(设备易损配件）

供应光伏配件，Berger测试氙灯等

DMD 数字微镜阵列

SBS-150 少子寿命

SBS-150 少子寿命测量生长块的是获得最终晶圆少子寿命的最好办法.SBS-150体硅少子寿命分析仪对硅锭生长方向上的少子寿命变化特别敏感，能否准确预测切割出的硅片的质量和缺陷状态。

太阳能板检测专用数码相机－太阳能电池检测相机,高灵敏致冷CCD相机

Alpao波前传感器

Alpao夏克哈特曼（Shack-Hartmann）波前传感器（WFS）是专门为自适应光学系统设计的。

检测晶片瑕疵与电池效率的SWIR摄像机

I-V 曲线测试仪

MP-170是用于测量I-V曲线的先进仪器，可评估太阳能电池组件和阵列的性能。测量范围可从10W光伏组件至 10kW 光伏发电系统。 MP-170对电压的测量范围从10V～ 1000V ，适用于高电压PV阵列。

脉冲激光沉积系统 (PLD)

霍尔效应测试仪

霍尔效应测试仪：主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。 \r 除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用于太阳能电池片的制程辅助

ALPAO高速变形镜

ALPAO高速变形镜的反射面是基于磁激励器的，该变形镜具有行程长、快速校正波前畸变等优点。

单腔室和多腔室薄膜沉积设备

MVSystems 公司设计，制造和提供各类单腔室和多腔室薄膜沉积设备。另外，根据用户的需求，各种PECVD，HWCVD，和PVD腔室可以单个制造，也可配备到现有的团簇型（星型）或是直线型沉积系统。MVSystems具有制造用于各类研发，中试以及小型生产设备的强大能力和丰富经验，所生产的设备已成功地使用在全世界23个国家的大学，研究院所和公司。我们公司的工程部门可最大限度地为用户着想，以使用户们获取他们最需要的且价格合适的设备。