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变温霍尔效应测试仪Hall8686  
变温霍尔效应测试仪Hall8686
台湾SWIN公司生产的霍尔效应测试仪 (Hall Effect Measurement System)是性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪，在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知名度。本仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。 \r \r \r 除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用
太阳能晶片检测  
太阳能晶片检测
太阳能晶片检测：
硅块红外检测仪  
硅块红外检测仪
硅块红外检测仪
红外硅锭缺陷检测仪  
红外硅锭缺陷检测仪
红外硅锭缺陷检测仪：多晶硅铸锭过程中，由于原料，参杂，坩埚及温场控制等诸多原因会造成不同程度的缺陷产生，如：SIC颗粒，隐裂，空洞，微晶等。这些缺陷的存在不能制造合格的多晶硅太阳能电池片，而且对后道切片工艺危害极大。因为SIC硬度极高，会使线据断线。硅裂的存在会使硅片掉落，甚至损坏导轮。 如何在不损伤硅块的前提下检测出这些缺陷，理论上有很多方法，如X光透视，超声波检测，红外投射等都是常用的方法，但综合考虑成本，工作环境，劳动保护，工作效率和操作便捷，红外投射的方法最合适。 国内主要的大厂都有使
霍尔效应测试仪  
霍尔效应测试仪
霍尔效应测试仪：主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。 \r 除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用于太阳能电池片的制程辅助
CoreScan荷兰SunLab Corescan、Sherescan测试系统  
CoreScan荷兰SunLab Corescan、Sherescan测试系统
荷兰SunLab Corescan、Sherescan测试系统. 通过CoreScan扫描Rs，可以得到整个电池片的串联电阻分布图。从而判断影响此因素的原因，如：烧结温度过高过低、磷硅玻璃是否去除干净，发射层是否平整均匀，电极是否有虚印、断线等等
单腔室和多腔室薄膜沉积设备  
单腔室和多腔室薄膜沉积设备
MVSystems 公司设计，制造和提供各类单腔室和多腔室薄膜沉积设备。另外，根据用户的需求，各种PECVD，HWCVD，和PVD腔室可以单个制造，也可配备到现有的团簇型（星型）或是直线型沉积系统。MVSystems具有制造用于各类研发，中试以及小型生产设备的强大能力和丰富经验，所生产的设备已成功地使用在全世界23个国家的大学，研究院所和公司。我们公司的工程部门可最大限度地为用户着想， 以使用户们获取他们最需要的且价格合适的设备。
太阳能模拟器（SCD1)IV测试仪  
太阳能模拟器（SCD1)IV测试仪
这种测试仪适用于已经有光源的用户，仅采集IV数据。
便携式IV测试仪 太阳模拟器  
便携式IV测试仪 太阳模拟器
便携式IV测试仪，太阳模拟器，可以测组件。
太阳能电池影像光谱色差检测系统(Hyperspectral Imaging System)  
太阳能电池影像光谱色差检测系统(Hyperspectral Imaging System)
太阳能电池影像光谱色差检测系统(Hyperspectral Imaging System)
IQE-SCAN 光谱量子效率  
IQE-SCAN 光谱量子效率
IQE-SCAN 光谱量子效率和反射该工具专为自动IQE分析而设计\r 晶体硅太阳能电池
3S探针台 手动探针台 自动探针台  
3S探针台 手动探针台 自动探针台
3S探针台：3S提供多种用途探针台，包括：晶圆探针台、平板(LCD/OLED)探针台、RF探针台、LD/PD探针台、高低温探针台、表面电阻率探针台(四探针台）、霍尔效应探针台、客户订制探针台； 提供探针台部件，包括：长工作距离显微镜、防震桌、屏蔽箱、探针座及各种探针、高温卡盘、探针卡、RF探头、适配器、线缆； 已有探针台的升级
光伏电池板检测显微镜  
光伏电池板检测显微镜
光伏电池板检测显微镜|研究型大平台三目正置式金相显微镜：SDMM-4000C(无穷远光学设计)
Solar Simulator Uniformity Mapper  
Solar Simulator Uniformity Mapper
Solar Simulator Uniformity Mapper
Spectral Response / Quantum Efficiency / IPCE Measurement System  
Spectral Response / Quantum Efficiency / IPCE Measurement System
Spectral Response / Quantum Efficiency / IPCE Measurement System
碳氧含量分析仪Nicolet 6700测试仪 傅立叶红外光谱仪  
碳氧含量分析仪Nicolet 6700测试仪 傅立叶红外光谱仪
碳氧含量分析仪Nicolet 6700测试仪 傅立叶红外光谱仪
OKO自适应光学  
OKO自适应光学
OKO公司波前传感器的原理是基于Shack -Hatmann，现在主要提供四种类型的波前传感器，用户还可以根据实际需求定制不用微透镜阵列或者不同CCD的波前传感器。
LETO-3 纯相位空间光调制器  
LETO-3 纯相位空间光调制器
电致发光影像分析(Electroluminescence, EL)  
电致发光影像分析(Electroluminescence, EL)
电致发光影像分析(Electroluminescence, EL)：大小裂痕(large and microcracks)、缺损(holes)、杂质(inclusion)、扩散深度(diffusion length)及接触或传导不良区域
台阶仪ET200/台阶仪  
台阶仪ET200/台阶仪
日本KOSAKA 台阶仪ET200：KOSAKA ET 200基于Windows XP操作系统为多种不同表面提供全面的形貌分析，包括半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石（钻石）****接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用。ET 200能精确可靠地测量出表面台阶形貌、粗糙度、波纹度、磨损度、薄膜应力等多种表面形貌技术参数。
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