__空间光调制器|波前测试仪|变形镜|激光器瞬渺

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红外硅锭缺陷检测仪

红外硅锭缺陷检测仪：多晶硅铸锭过程中，由于原料，参杂，坩埚及温场控制等诸多原因会造成不同程度的缺陷产生，如：SIC颗粒，隐裂，空洞，微晶等。这些缺陷的存在不能制造合格的多晶硅太阳能电池片，而且对后道切片工艺危害极大。因为SIC硬度极高，会使线据断线。硅裂的存在会使硅片掉落，甚至损坏导轮。如何在不损伤硅块的前提下检测出这些缺陷，理论上有很多方法，如X光透视，超声波检测，红外投射等都是常用的方法，但综合考虑成本，工作环境，劳动保护，工作效率和操作便捷，红外投射的方法最合适。国内主要的大厂都有使

太阳能电池激光划片机

太阳能电池激光划片机：·应用领域\r \r 太阳能光伏行业中，单晶硅、多晶硅及非晶硅太阳能电池片和硅片的划片加工。 \r \r ·产品特点\r \r 采用氪灯泵浦（YAG）激光器，采用声光调制系统、数控X-Y运动工作台及步进电机驱动；\r \r 系统采用国际流行的模块化设计，关键部件均采用进口产品；\r \r 设备高可靠、高精度、高效率；\r \r 软件升级至3.0版且安装移机简单方便； \r \r 高精度一体化恒温循环水冷；长时间运行稳定可靠；

霍尔效应测试仪

霍尔效应测试仪：主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。 \r 除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用于太阳能电池片的制程辅助

Spectroradiometer

扩展电阻仪 (SRP)

SRP (Spreading Resistance Profiling) 扩展电阻测试系统是用一对专用的点接触探针，沿着样品表面以很小的增量步进，测出每一点的扩展电阻值，绘出样品的电阻、电阻率和掺杂浓度的分布曲线。利用SRP法不仅可以得到外延层的电阻率分布等电学性质，而且可以确定外延层的厚度和界面杂质的过渡区分布。

EKO MP-160 I-V曲线测试仪

EKO MP-160 MP-160对太阳模拟器室内评测和室外自然光评测等应用都有出色表现。MP-160能够完成对大面积电池测量、化合物电池、染料电池等的高精度I-V曲线测量。

ECV校准硅片

ECV校准硅片 CVP-CS

Ushio 测试灯UXL-10S，UXL-16S

Ushio 测试灯UXL-10S，UXL-16S日本USHIO UXL-16S 氙灯，球形氙灯，产品简介:日本USHIO UXL-16S 氙灯，球形氙灯该短弧氙灯主要应用在：太阳能光伏企业的日本进口NPC品牌的太阳能电池片

供应光伏配件，Berger测试氙灯等

深能级瞬态谱仪（Deep Level Transient Spectroscopy system）

深能级瞬态谱仪是半导体领域研究和检测半导体杂质、缺陷深能级、界面态等的重要技术手段！测试功能：电容模式、定电容模式、电流模式、（双关联模式）、Zerbst模式、光激发模式、FET分析、MOS分析、等温瞬态谱、Trap profiling、俘获截面测量、I/V,I/V(T) 查理森Plot分析、C/V, C/V(T) 、TSC/TSCAP 、光子诱导瞬态谱、DLOS；测试根据半导体P-N结、金-半接触结构肖特基结的瞬态电容（△C~t）技术和深能级瞬态谱的发射率窗技术测量出的深能级瞬态谱，是一种具