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 | CDE ResMap Model 468CDE ResMap–CDE 公司生产之电阻值测试系统CDE ResMap Model 468 是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的 |
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 | 原子层沉积技术（Atomic Layer Deposition）原子层沉积技术（Atomic Layer Deposition）是一种原子尺度的薄膜制备技术。它可以沉积均匀一致，厚度可控、成分可调的超薄薄膜。随着纳米技术和半导体微电子技术的发展，器件和材料的尺寸要求不断地降低，同时器件结构中的宽深比不断增加，这样就要求所使用材料的厚度降低至十几纳米到几个纳米数量级。因此原子层沉积技术逐渐成为了相关制造领域不可替代的技术。其优势决定了它具有巨大的发展潜力和更加广阔的应用空间。 |
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 | 电池和组件缺陷视测 Photovoltaic Cell Inspection System电池和组件缺陷视测 Photovoltaic Cell Inspection System |
 | 量子效率测量系统即时性內部量子效率测量。 大幅降低紫外光領域的迷光现象，对高量子效率的样品展現出优异的测量性能。 搭配低迷光对应光谱仪，实现高感度、高稳定性的光谱解析。 激发光源采用光栅搭配滤光镜分光、可任意选择单一波长。(选配) |
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