__空间光调制器|波前测试仪|变形镜|激光器瞬渺

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太阳能产业探针台(Solar Cell 量测系统)

太阳能产业探针台(Solar Cell 量测系统)I-V /C-V Curve, Isc, Voc, \r Pmax, Imax, Vmax, RS, Fill Factor,\r Power Convert Efficiency\r 采用KEITHLEY Source Meter\r 可加配任意品牌之太阳光模拟器

Portable I-V Testers for PV Modules

EKO MP-160 I-V曲线测试仪

EKO MP-160 MP-160对太阳模拟器室内评测和室外自然光评测等应用都有出色表现。MP-160能够完成对大面积电池测量、化合物电池、染料电池等的高精度I-V曲线测量。

日照强度计，带有空气流通系统

日照强度计MS-802/402/602用于测量大气中接受到的太阳照射能量。传感器采用对全波段都有平整光谱响应的温差热电堆。当日照辐射被传感器的黑体表面吸收，由于冷/热连接点的温差导致热-电效应，热电堆产生电信号。

CVP21-HB Halogen light bulb for CVP21 UV灯泡

电池和组件缺陷视测 Photovoltaic Cell Inspection System

量子效率测量系统

即时性內部量子效率测量。大幅降低紫外光領域的迷光现象，对高量子效率的样品展現出优异的测量性能。搭配低迷光对应光谱仪，实现高感度、高稳定性的光谱解析。激发光源采用光栅搭配滤光镜分光、可任意选择单一波长。(选配)

二次离子质谱仪

二次离子质谱仪，是最前沿的表面分析技术。二次离子质谱仪揭示了真正表面和近表面原子层的化学组成，其信息量也远远超过了简单的元素分析，可以用于鉴定有机成分的分子结构。二次离子质谱仪广泛应用于微电子技术、化学技术、纳米技术以及生命科学之中，它可以在数秒内对表面的局部区域进行扫描和分析，生成一个表面成分图。

CDE ResMap Model 463-FOUP and 463-OC

CDE　ResMap–CDE　公司生产之电阻值测试系统CDE ResMap Model 463-FOUP and 463-OC是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的

原子层沉积技术（Atomic Layer Deposition）

原子层沉积技术（Atomic Layer Deposition）是一种原子尺度的薄膜制备技术。它可以沉积均匀一致，厚度可控、成分可调的超薄薄膜。随着纳米技术和半导体微电子技术的发展，器件和材料的尺寸要求不断地降低，同时器件结构中的宽深比不断增加，这样就要求所使用材料的厚度降低至十几纳米到几个纳米数量级。因此原子层沉积技术逐渐成为了相关制造领域不可替代的技术。其优势决定了它具有巨大的发展潜力和更加广阔的应用空间。