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WCT-120TS变温少子寿命测试仪
 
 
WCT-120TS变温少子寿命测试仪
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WCT-120TS变温少子寿命测试仪

分别采用QSSPC方法和变温法得出硅片的少子寿命测试仪

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WCT-120TS是依赖温度的少子寿命测试仪，他提供变温少数载流子复合寿命。太阳能电池是对温度敏感的器件，在高温下电池性能下降，而少子寿命是电池性能的一个重要指征。

产品概述

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该wct-120ts少子寿命测试仪展示了独特的测量和分析技术。wct-120仪器分别采用由辛顿仪器变温（温度范围从25到200??/span>C ）和准稳态光电导法得到硅片的载流子复合寿命。

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wct-120ts系统能力

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主要应用：

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在一个温度范围内测量硅片的少数载流子复合寿命。

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其它功能：

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温度和注入相关的少子寿命的周期结果。

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应用于：

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??初始材料（硅片）质量监控

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??晶圆（硅片）加工过程中重金属污染的检测

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??评价表面钝化和发射极的掺杂剂扩散

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??使用隐含的I-V测量评价过程中引入的漏电流

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上图为温度和注入相关的寿命测量结果r

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