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接触电阻率和薄层电阻 TLM-SCAN+

接触电阻率和薄层电阻 TLM-SCAN+ 前金属化的接触电阻是对丝网印刷太阳能电池的总串联电阻的重要贡献。具有合适测试结构的转移长度方法是将接触电阻与其他串联电阻效应分开的最佳方法。然而，接触电阻可以在太阳能电池上显着变化，因此需要在成品太阳能电池上以空间分辨率测量它的方法。 TLM-SCAN产生太阳能电池的接触电阻率的映射，该太阳能电池用激光或切割锯切割成条纹。

美国Sinton WCT-120少子寿命测试仪采用了准稳定态光电导(QSSPC)测量方法和分析技术。可灵敏地反映单、多晶硅片的重金属污染及陷阱效应、表面复合效应等缺陷情况。WCT在效率大于20%的超高效太阳能电池(HIT,MWT,EWT,PREL,等等)的研发和生产过程中是一种被广泛选用的检测工具。这种QSSPC测量少子寿命的方法可以在电池生产的中间任意阶段得到一个类似光照IV曲线的开压曲线，可以结合最后的IV曲线对电池制作过程进行数据监控和参数优化等工作。

WAFER PROFILER CVP21

WAFER PROFILER CVP21\r \r The Wafer Profiler CVP21 is a handy tool to measure doping profiles in semiconductor layers by Electrochemical Capacitance Voltage Profiling (ECV-Profiling, CV-Profiling) in semiconductor research or production.\r This ECV Profi

LIS-R2-Plus

光伏适用电化学ECV 掺杂浓度检测电化学CV分布仪（CV测试仪）电化学CV剖面分析仪电化学CV载流子浓度

光伏使用电化学ECV 掺杂浓度检测电化学CV分布仪（CV测试仪）电化学CV剖面分析仪电化学CV载流子浓度

PL成像检测系统（光致发光成像检测系统）

澳大利亚BT Imaging公司 R3&R2-Plus PL成像检测系统（光致发光成像检测系统）

FPS-300闪光电源

The FPS-300 is a new flash power supply designed to replace the Quantum power supply stack and flash\r head.

少子寿命测量仪BLS-测试硅棒

少子寿命测量仪BLS-I 用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量，除需要有一个测量平面外，对样块\r \r 体形无严格要求，可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体\r \r 内重金属杂质污染及缺陷存在的情况，是单晶质量的重要检测项目。

suns-Voc测试仪

suns-Voc测试仪:利用Suns-Voc进行浆料与烧结技术优化，主要测试IV曲线

FMT_CCT

这个电池测量系统具有很高精确度，用来测量高效率太阳电池。它用一个专利的频闪技术实现。

SBS-150 少子寿命

SBS-150 少子寿命测量生长块的是获得最终晶圆少子寿命的最好办法.SBS-150体硅少子寿命分析仪对硅锭生长方向上的少子寿命变化特别敏感，能否准确预测切割出的硅片的质量和缺陷状态。

WCT-IL800

快速在线监测。实现了准确监控少子寿命，方块电阻和缺陷密度的情况。

WCT-120PL荧光少子寿命测试仪

分别采用瞬态光电导和荧光方法测量硅片到太阳能电池半成品或者成品电池的少子寿命

WCT-120TS变温少子寿命测试仪

分别采用QSSPC方法和变温法得出硅片的少子寿命测试仪

微波反射光电导衰退法少子寿命分析仪

少子寿命测量仪 BCT-400测试硅锭

少子寿命测量仪BCT-400测试硅锭BCT-400 BCT-400测量系统不需要做表面钝化就能直接测量单晶和多晶硅（锭或块）的少子寿命. 因为少子寿命作为衡量生长和缺陷含量的的最敏感的技术参数，这个工具直接获得长硅的质量参数。

四探针四点探针四探针测试仪四探针太阳能硅片电阻率测试仪四探针四点探针四探针测试仪四探针太阳能硅片电阻率测试仪

四探针四点探针四探针测试仪四探针太阳能硅片电阻率测试仪四探针四点探针四探针测试仪四探针太阳能硅片电阻率测试仪查看大图四探针四点探针四探针测试仪四探针太阳能硅片电阻率测试仪这款紧凑型仪器在所有轴上均可自动化，可在不到4分钟内创建100点的薄层电阻和晶圆电阻率映射。在点击地图后将探头导航到所需位置后，可以重新测量单点。