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 | CDE ResMap Model 463-FOUP and 463-OCCDE ResMap–CDE 公司生产之电阻值测试系统CDE ResMap Model 463-FOUP and 463-OC是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的 |
 | CDE ResMap Model 468CDE ResMap–CDE 公司生产之电阻值测试系统CDE ResMap Model 468 是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的 |
 | WCT-120PL荧光少子寿命测试仪分别采用瞬态光电导和荧光方法测量硅片到太阳能电池半成品或者成品电池的少子寿命 |
 | 原子层沉积技术（Atomic Layer Deposition）原子层沉积技术（Atomic Layer Deposition）是一种原子尺度的薄膜制备技术。它可以沉积均匀一致，厚度可控、成分可调的超薄薄膜。随着纳米技术和半导体微电子技术的发展，器件和材料的尺寸要求不断地降低，同时器件结构中的宽深比不断增加，这样就要求所使用材料的厚度降低至十几纳米到几个纳米数量级。因此原子层沉积技术逐渐成为了相关制造领域不可替代的技术。其优势决定了它具有巨大的发展潜力和更加广阔的应用空间。 |
 | 太阳能模拟器（SCD1)IV测试仪这种测试仪适用于已经有光源的用户，仅采集IV数据。 |
 | WCT-120TS变温少子寿命测试仪分别采用QSSPC方法和变温法得出硅片的少子寿命测试仪 |
| | 微波反射光电导衰退法少子寿命分析仪微波反射光电导衰退法少子寿命分析仪 |
 | 脉冲激光沉积系统 (PLD)脉冲激光沉积系统 (PLD) |
 | ERIS纯相位型空间光调制器ERIS 纯相位空间光调制器是基于液晶微显示技术，分辨率可达 1920x1200 像素。像元大小 8μm。 ERIS纯相位空间光调制器提供可见光波段和通信波段的型号可供选择，覆盖从 400nm 到 1600nm 的波 长。具有极高的相位稳定性、低延迟和低串扰 |
| | ALPAO高速变形镜ALPAO高速变形镜的反射面是基于磁激励器的，该变形镜具有行程长、快速校正波前畸变等优点。 |
 | 高分辨率3D打印系统主要特征 1.具有 100 nm 特征尺寸控制的高速高分辨率 3D 微纳加工 2.广泛的基板和晶圆，最大可达 8 英寸 3.工业批量处理：200 种典型的中尺度结构可在一夜之间打印 4.通过花岗岩基层和减振实现高机械和热稳定性 5.个性化定制系统，适用于广泛应用，是多用户设施的理想选择 |
| | GAEA-2 千万级像素(4094 x 2464 )纯相位空间光调制器GAEA-2 纯相位空间光调制器是基于液晶微显示技术，分辨率可达 4094x2464 像素。像元大小3.74μm，GAEA-2 有针对不同应用不同波段的型号 |
| | Alpao波前传感器Alpao夏克哈特曼（Shack-Hartmann）波前传感器（WFS）是专门为自适应光学系统设计的。 |
| | OKO自适应光学OKO公司波前传感器的原理是基于Shack -Hatmann，现在主要提供四种类型的波前传感器，用户还可以根据实际需求定制不用微透镜阵列或者不同CCD的波前传感器。 |
| | Night N自适应光学相关产品闭环自适应光学系统是用来纠正低阶激光光束产生的波前畸变。该系统是利用压电式变形镜作为波前校正器，利用Shack-Hartman波前传感器作为波前测量，闭环软件来控制整套校正系统。 |