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I-V 曲线测试仪  
I-V 曲线测试仪
MP-170是用于测量I-V曲线的先进仪器,可评估太阳能电池组件和阵列的性能。测量范围可从10W光伏组件至 10kW 光伏发电系统。 MP-170对电压的测量范围从10V~ 1000V ,适用于高电压PV阵列。
二次离子质谱仪  
二次离子质谱仪
二次离子质谱仪,是最前沿的表面分析技术。二次离子质谱仪揭示了真正表面和近表面原子层的化学组成,其信息量也远远超过了简单的元素分析,可以用于鉴定有机成分的分子结构。二次离子质谱仪广泛应用于微电子技术、化学技术、纳米技术以及生命科学之中,它可以在数秒内对表面的局部区域进行扫描和分析,生成一个表面成分图。
EKO MP-160 I-V曲线测试仪  
EKO MP-160 I-V曲线测试仪
EKO MP-160 MP-160对太阳模拟器室内评测和室外自然光评测等应用都有出色表现 。MP-160能够完成对大面积电池测量、化合物电池、染料电池等的高精度I-V曲线测量。
ESS-200XIL 太阳光模拟器  
ESS-200XIL 太阳光模拟器
ESS-200XIL 太阳光模拟器 ESS-200XIL太阳光模拟器使用精确校准的光源,模拟自然太阳光照射。同I-V曲线测试仪配合可作为室内太阳能电池测试系统。
日照强度计,带有空气流通系统  
日照强度计,带有空气流通系统
日照强度计MS-802/402/602用于测量大气中接受到的太阳照射能量。传感器采用对全波段都有平整光谱响应的温差热电堆。当日照辐射被传感器的黑体表面吸收,由于冷/热连接点的温差导致热-电效应,热电堆产生电信号。
SBS-150 少子寿命  
SBS-150 少子寿命
SBS-150 少子寿命 测量生长块的是获得最终晶圆少子寿命的最好办法.SBS-150体硅少子寿命分析仪对硅锭生长方向上的少子寿命变化特别敏感,能否准确预测切割出的硅片的质量和缺陷状态。
WCT-IL800  
WCT-IL800
快速在线监测。实现了准确监控少子寿命,方块电阻和缺陷密度的情况。
少子寿命测试仪闪光灯 sinton BLS-1 lifetime(设备易损配件)  
少子寿命测试仪闪光灯 sinton BLS-1 lifetime(设备易损配件)
少子寿命测试仪闪光灯泡 sinton wct-120 lifetime(设备易损配件)
Ushio 测试灯UXL-10S,UXL-16S  
Ushio 测试灯UXL-10S,UXL-16S
Ushio 测试灯UXL-10S,UXL-16S日本USHIO UXL-16S 氙灯 ,球形氙灯 ,产品简介:日本USHIO UXL-16S 氙灯 ,球形氙灯 该短弧氙灯主要应用在:太阳能光伏企业的日本进口NPC品牌的太阳能电池片
深能级瞬态谱仪(Deep Level Transient Spectroscopy system)  
深能级瞬态谱仪(Deep Level Transient Spectroscopy system)
深能级瞬态谱仪是半导体领域研究和检测半导体杂质、缺陷深能级、界面态等的重要技术手段!测试功能:电容模式、定电容模式、电流模式、(双关联模式)、Zerbst模式、光激发模式、FET分析、MOS分析、等温瞬态谱、Trap profiling、俘获截面测量、I/V,I/V(T) 查理森Plot分析、C/V, C/V(T) 、TSC/TSCAP 、光子诱导瞬态谱、DLOS; 测试根据半导体P-N结、金-半接触结构肖特基结的瞬态电容(△C~t)技术和深能级瞬态谱的发射率窗技术测量出的深能级瞬态谱,是一种具
CoreScan荷兰SunLab Corescan、Sherescan测试系统  
CoreScan荷兰SunLab Corescan、Sherescan测试系统
荷兰SunLab Corescan、Sherescan测试系统. 通过CoreScan扫描Rs,可以得到整个电池片的串联电阻分布图。从而判断影响此因素的原因,如:烧结温度过高过低、磷硅玻璃是否去除干净,发射层是否平整均匀,电极是否有虚印、断线等等
单腔室和多腔室薄膜沉积设备  
单腔室和多腔室薄膜沉积设备
MVSystems 公司设计,制造和提供各类单腔室和多腔室薄膜沉积设备。另外,根据用户的需求,各种PECVD,HWCVD,和PVD腔室可以单个制造,也可配备到现有的团簇型(星型)或是直线型沉积系统。MVSystems具有制造用于各类研发,中试以及小型生产设备的强大能力和丰富经验,所生产的设备已成功地使用在全世界23个国家的大学,研究院所和公司。我们公司的工程部门可最大限度地为用户着想, 以使用户们获取他们最需要的且价格合适的设备。