__空间光调制器|波前测试仪|变形镜|激光器瞬渺

产品分类

应用分类

浏览过的商品

清除列表 | 查看所有

总共找到1339个商品

图文列表橱窗文字

价格销量人气

排序方式:

光伏电池板检测显微镜

光伏电池板检测显微镜|研究型大平台三目正置式金相显微镜：SDMM-4000C(无穷远光学设计)

Portable I-V Testers for PV Modules

Solar Simulator Uniformity Mapper

Spectral Response / Quantum Efficiency / IPCE Measurement System

扩展电阻仪 (SRP)

SRP (Spreading Resistance Profiling) 扩展电阻测试系统是用一对专用的点接触探针，沿着样品表面以很小的增量步进，测出每一点的扩展电阻值，绘出样品的电阻、电阻率和掺杂浓度的分布曲线。利用SRP法不仅可以得到外延层的电阻率分布等电学性质，而且可以确定外延层的厚度和界面杂质的过渡区分布。

半导体行业专用CDE ResMap 四点探针

CDE　ResMap–CDE　公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的

台湾SWIN公司生产的霍尔效应测试仪 (Hall Effect Measurement System)是性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪，在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知名度。本仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。 \r \r \r 除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用

FMT_CCT

这个电池测量系统具有很高精确度，用来测量高效率太阳电池。它用一个专利的频闪技术实现。

Filmetrics光学膜厚测量仪_电池片厚度测试

美国Filmetrics光学膜厚测量仪，利用反射干涉的原理进行无损测量，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速，操作简单，界面友好，是目前市场上最具性价比的膜厚测量仪设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的，透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。F20、F30、F40、F50

I-V 曲线测试仪

MP-170是用于测量I-V曲线的先进仪器，可评估太阳能电池组件和阵列的性能。测量范围可从10W光伏组件至 10kW 光伏发电系统。 MP-170对电压的测量范围从10V～ 1000V ，适用于高电压PV阵列。

二次离子质谱仪

二次离子质谱仪，是最前沿的表面分析技术。二次离子质谱仪揭示了真正表面和近表面原子层的化学组成，其信息量也远远超过了简单的元素分析，可以用于鉴定有机成分的分子结构。二次离子质谱仪广泛应用于微电子技术、化学技术、纳米技术以及生命科学之中，它可以在数秒内对表面的局部区域进行扫描和分析，生成一个表面成分图。