__空间光调制器|波前测试仪|变形镜|激光器瞬渺

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碳氧含量分析仪Nicolet 6700测试仪傅立叶红外光谱仪

日照强度计，带有空气流通系统

日照强度计MS-802/402/602用于测量大气中接受到的太阳照射能量。传感器采用对全波段都有平整光谱响应的温差热电堆。当日照辐射被传感器的黑体表面吸收，由于冷/热连接点的温差导致热-电效应，热电堆产生电信号。

CDE ResMap Model 463-FOUP and 463-OC

CDE　ResMap–CDE　公司生产之电阻值测试系统CDE ResMap Model 463-FOUP and 463-OC是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的

CDE ResMap Model 468

CDE　ResMap–CDE　公司生产之电阻值测试系统CDE ResMap Model 468 是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的

太阳能产业探针台(Solar Cell 量测系统)

太阳能产业探针台(Solar Cell 量测系统)I-V /C-V Curve, Isc, Voc, \r Pmax, Imax, Vmax, RS, Fill Factor,\r Power Convert Efficiency\r 采用KEITHLEY Source Meter\r 可加配任意品牌之太阳光模拟器

红外硅锭缺陷检测仪：多晶硅铸锭过程中，由于原料，参杂，坩埚及温场控制等诸多原因会造成不同程度的缺陷产生，如：SIC颗粒，隐裂，空洞，微晶等。这些缺陷的存在不能制造合格的多晶硅太阳能电池片，而且对后道切片工艺危害极大。因为SIC硬度极高，会使线据断线。硅裂的存在会使硅片掉落，甚至损坏导轮。如何在不损伤硅块的前提下检测出这些缺陷，理论上有很多方法，如X光透视，超声波检测，红外投射等都是常用的方法，但综合考虑成本，工作环境，劳动保护，工作效率和操作便捷，红外投射的方法最合适。国内主要的大厂都有使

IQE-SCAN 光谱量子效率

IQE-SCAN 光谱量子效率和反射该工具专为自动IQE分析而设计\r 晶体硅太阳能电池

便携式IV测试仪太阳模拟器

便携式IV测试仪，太阳模拟器，可以测组件。

太阳能电池影像光谱色差检测系统(Hyperspectral Imaging System)

Spectral Response / Quantum Efficiency / IPCE Measurement Systems

原子层沉积技术（Atomic Layer Deposition）

原子层沉积技术（Atomic Layer Deposition）是一种原子尺度的薄膜制备技术。它可以沉积均匀一致，厚度可控、成分可调的超薄薄膜。随着纳米技术和半导体微电子技术的发展，器件和材料的尺寸要求不断地降低，同时器件结构中的宽深比不断增加，这样就要求所使用材料的厚度降低至十几纳米到几个纳米数量级。因此原子层沉积技术逐渐成为了相关制造领域不可替代的技术。其优势决定了它具有巨大的发展潜力和更加广阔的应用空间。

硅块红外检测仪

Soldaduras Avanzadas聚光型模组量测系统

便携的I - V光伏组件测试仪Portable I-V Testers for PV Modules

太阳能电池IV特性测量系统

便携式太阳能电池缺陷检测仪

Spectral Response / Quantum Efficiency / IPCE Measurement System

二次离子质谱仪

二次离子质谱仪，是最前沿的表面分析技术。二次离子质谱仪揭示了真正表面和近表面原子层的化学组成，其信息量也远远超过了简单的元素分析，可以用于鉴定有机成分的分子结构。二次离子质谱仪广泛应用于微电子技术、化学技术、纳米技术以及生命科学之中，它可以在数秒内对表面的局部区域进行扫描和分析，生成一个表面成分图。