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 | 太阳能晶片/电池片计数太阳能晶片/电池片计数 |
 | 红外硅锭缺陷检测仪红外硅锭缺陷检测仪：多晶硅铸锭过程中，由于原料，参杂，坩埚及温场控制等诸多原因会造成不同程度的缺陷产生，如：SIC颗粒，隐裂，空洞，微晶等。这些缺陷的存在不能制造合格的多晶硅太阳能电池片，而且对后道切片工艺危害极大。因为SIC硬度极高，会使线据断线。硅裂的存在会使硅片掉落，甚至损坏导轮。 如何在不损伤硅块的前提下检测出这些缺陷，理论上有很多方法，如X光透视，超声波检测，红外投射等都是常用的方法，但综合考虑成本，工作环境，劳动保护，工作效率和操作便捷，红外投射的方法最合适。 国内主要的大厂都有使 |
 | 太阳能产业探针台(Solar Cell 量测系统)太阳能产业探针台(Solar Cell 量测系统)I-V /C-V Curve, Isc, Voc, \r Pmax, Imax, Vmax, RS, Fill Factor,\r Power Convert Efficiency\r 采用KEITHLEY Source Meter\r 可加配任意品牌之太阳光模拟器 |
 | Soldaduras Avanzadas聚光型模组量测系统Soldaduras Avanzadas聚光型模组量测系统 |
 | 便携式IV测试仪 太阳模拟器便携式IV测试仪，太阳模拟器，可以测组件。 |
| | 太阳能晶片检测太阳能晶片检测： |
 | 太阳能电池IV特性测量系统太阳能电池IV特性测量系统 |
| | 便携的I - V光伏组件测试仪Portable I-V Testers for PV Modules便携的I - V光伏组件测试仪Portable I-V Testers for PV Modules |
 | Spectral Response / Quantum Efficiency / IPCE Measurement SystemsSpectral Response / Quantum Efficiency / IPCE Measurement Systems |
 | 便携式太阳能电池缺陷检测仪便携式太阳能电池缺陷检测仪 |
 | IQE-SCAN 光谱量子效率IQE-SCAN 光谱量子效率和反射该工具专为自动IQE分析而设计\r 晶体硅太阳能电池 |
| | Spectral Response / Quantum Efficiency / IPCE Measurement SystemSpectral Response / Quantum Efficiency / IPCE Measurement System |
| | ECV校准硅片ECV校准硅片 CVP-CS |
 | 太阳能电池影像光谱色差检测系统(Hyperspectral Imaging System)太阳能电池影像光谱色差检测系统(Hyperspectral Imaging System) |
 | 量子效率测量系统即时性內部量子效率测量。 大幅降低紫外光領域的迷光现象，对高量子效率的样品展現出优异的测量性能。 搭配低迷光对应光谱仪，实现高感度、高稳定性的光谱解析。 激发光源采用光栅搭配滤光镜分光、可任意选择单一波长。(选配) |
 | 硅块红外检测仪硅块红外检测仪 |