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WCT-IL800  
WCT-IL800
快速在线监测。实现了准确监控少子寿命,方块电阻和缺陷密度的情况。
少子寿命测试仪闪光灯 sinton BLS-1 lifetime(设备易损配件)  
少子寿命测试仪闪光灯 sinton BLS-1 lifetime(设备易损配件)
少子寿命测试仪闪光灯泡 sinton wct-120 lifetime(设备易损配件)
单腔室和多腔室薄膜沉积设备  
单腔室和多腔室薄膜沉积设备
MVSystems 公司设计,制造和提供各类单腔室和多腔室薄膜沉积设备。另外,根据用户的需求,各种PECVD,HWCVD,和PVD腔室可以单个制造,也可配备到现有的团簇型(星型)或是直线型沉积系统。MVSystems具有制造用于各类研发,中试以及小型生产设备的强大能力和丰富经验,所生产的设备已成功地使用在全世界23个国家的大学,研究院所和公司。我们公司的工程部门可最大限度地为用户着想, 以使用户们获取他们最需要的且价格合适的设备。
红外硅锭缺陷检测仪  
红外硅锭缺陷检测仪
红外硅锭缺陷检测仪:多晶硅铸锭过程中,由于原料,参杂,坩埚及温场控制等诸多原因会造成不同程度的缺陷产生,如:SIC颗粒,隐裂,空洞,微晶等。这些缺陷的存在不能制造合格的多晶硅太阳能电池片,而且对后道切片工艺危害极大。因为SIC硬度极高,会使线据断线。硅裂的存在会使硅片掉落,甚至损坏导轮。 如何在不损伤硅块的前提下检测出这些缺陷,理论上有很多方法,如X光透视,超声波检测,红外投射等都是常用的方法,但综合考虑成本,工作环境,劳动保护,工作效率和操作便捷,红外投射的方法最合适。 国内主要的大厂都有使
霍尔效应测试仪  
霍尔效应测试仪
霍尔效应测试仪:主要用于量测电子材料之重要特性参数,如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等,薄膜或体材料均可,其原理主要依据范德堡法则。 \r 除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外,它也可应用于LED磊晶层的质量判定,也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成,此未还可以用于太阳能电池片的制程辅助
Ushio 测试灯UXL-10S,UXL-16S  
Ushio 测试灯UXL-10S,UXL-16S
Ushio 测试灯UXL-10S,UXL-16S日本USHIO UXL-16S 氙灯 ,球形氙灯 ,产品简介:日本USHIO UXL-16S 氙灯 ,球形氙灯 该短弧氙灯主要应用在:太阳能光伏企业的日本进口NPC品牌的太阳能电池片
CoreScan荷兰SunLab Corescan、Sherescan测试系统  
CoreScan荷兰SunLab Corescan、Sherescan测试系统
荷兰SunLab Corescan、Sherescan测试系统. 通过CoreScan扫描Rs,可以得到整个电池片的串联电阻分布图。从而判断影响此因素的原因,如:烧结温度过高过低、磷硅玻璃是否去除干净,发射层是否平整均匀,电极是否有虚印、断线等等
CDE ResMap Model 468  
CDE ResMap Model 468
CDE ResMap–CDE 公司生产之电阻值测试系统CDE ResMap Model 468 是以四探针的工艺,以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控,既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的
太阳能板检测专用数码相机-太阳能电池检测相机,高灵敏致冷CCD相机  
太阳能板检测专用数码相机-太阳能电池检测相机,高灵敏致冷CCD相机
太阳能板检测专用数码相机-太阳能电池检测相机,高灵敏致冷CCD相机
电致发光影像分析(Electroluminescence, EL)  
电致发光影像分析(Electroluminescence, EL)
电致发光影像分析(Electroluminescence, EL):大小裂痕(large and microcracks)、缺损(holes)、杂质(inclusion)、扩散深度(diffusion length)及接触或传导不良区域
量子效率测量系统  
量子效率测量系统
即时性內部量子效率测量。 大幅降低紫外光領域的迷光现象,对高量子效率的样品展現出优异的测量性能。 搭配低迷光对应光谱仪,实现高感度、高稳定性的光谱解析。 激发光源采用光栅搭配滤光镜分光、可任意选择单一波长。(选配)