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 | OptiXplorer灵活的教学演示系统OptiXplorer是一款用于教学的演示系统。它为大学物理光学课程提供了多种实验。基本组成：HOLOEYE空间光学调制器（SLM），基于透射式SVGA液晶显示屏。此外还有几本详细的应用指南，一个应用软件和一个激光模块。因此OptiXplorer提供了一个有效的，低成本的教学工具，可以用来示范和探索多种光学现象。 |
 | 德国HOLOEYE衍射光学元件衍射光学在工业中的应用越来越广泛。从印刷，材料处理，传感，非接触式测试，生物科技到光学技术和光学测量，衍射光学为激光系统提供了更多的增值。通过在激光光束的光场中使用衍射光学元件（DOE），激光光束的“形状”可以被控制灵活的调整到各种应用需求。 |
 | MMDM15 可变形反射镜OKOOKO微加工薄漠可变形镜（MMDM）的通光孔径范围10~50mm，为激光与望远镜系统中的动态波前校正提供高质量的解决方案。 |
 | NightN可变形反射镜独特功能的高性价比变形反射镜！镜面可以镀任何介质或者金属材料的反射膜。 |
 | LC 2012透射式空间光调制器LC 2012相位兼振幅式空间光调制器是基于透射式液晶微显示技术，分辨率可达1024x768像素。 |
 | PHASICS波前分析仪/波前探测器/剪切干涉仪法国PHASICS公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析仪相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析，眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案！ |
 | 荷兰OKO--波前分析仪/波前传感器/波前测量仪OKO公司波前传感器/波前分析仪/波前测量仪的原理是基于Shack -Hatmann，现在主要提供四种类型的波前传感器，用户还可以实际需求定制不用微透镜整列或者不同CCD的波前传感器 |
 | 自适应系统------NightN闭环自适应光学系统是用来纠正低阶激光光束产生的波前畸变。该系统是利用压电式变形镜作为波前校正器，利用Shack-Hartman波前传感器作为波前测量，闭环软件是用来控制整套校正系统。 |
 | 法国Phasics--高分辨率波前分析仪/波前传感器/剪切干涉仪法国PHASICS公司自主研发的波前传感器、波前分析仪、波前探测器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析仪相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析，眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案！ |
 | Phasics公司Kaleo光学传递函数测量仪法国 Phasics公司提供Kaleo光学传递函数测量仪，其能提供最完整的透镜特性测试方案，包括离轴MTF和宽波长的波前误差测试。这个系列的MTF测试仪可用于镜头测试，光学表面测试。Kaleo IR 红外透镜的质量控制及测试系统，提供多个红外波长的测试方案。Kaleo MTF for R&D测试仪对于研发的特点是多个波长下进行自动离轴MTF以及波前误差测试。Kaleo i是一款人工晶状体质量控制测试仪。 |
 | Spectral Products单色仪Spectral Products的Digikröm系列单色仪，共有1/8,1/4,1/2米三种焦距可选，内置电子元件的数据驱动简单可靠。内部有一个微机控制的步进电机，最小的移动波长步长为0.01nm。应用广泛，适合于半导体、生物、工业制造、环境监测等多项领域。 |
 | SID4-SWIR 波前传感器Phasics法国PHASICS公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析仪相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析，眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案！ |
 | SID4 波前传感器Phasics法国PHASICS公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析仪相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。 |
 | SID4-DWIR 波前传感器Phasics法国PHASICS公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析仪相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析，眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案！ |
 | SID4-HR 波前传感器Phasics法国PHASICS公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析仪相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析，眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案！ |
 | SID4-UV 波前传感器Phasics法国PHASICS公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析仪相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析，眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案！ |
 | phasics SID4 IR-MCT波前传感器SID4 IR-MCT集成了 Phasics四波横向剪切干涉专利技术和新一代冷却MCT探测系统。这种独特的波前像差分析仪提供了一个非常高分辨率和超高灵敏度，波长范围跨越中波和短波红外范围（从1.2到5.5µµm m）。非常适合微弱光红外光源，如物镜和透镜测试的黑体源或FTIR激光束测量。 |
 | SID4-NIR 波前传感器Phasics法国PHASICS公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析仪相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析，眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案！ |
 | SID4 UV-HR 波前传感器Phasics法国PHASICS公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析仪相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析，眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案！ |
 | PDM30-19 压电式可变形镜OKOOKO生产低成本的压电式可变形镜（PDM），通光孔径分别为30mm和50mm。 变形量可达8um,相邻促动器距离1~3um。OKO可变形镜由OKO HV amplifer驱动，接口是8-bit PCI插口或者是12-bit USB插口。可变形镜的全振幅机械响应时间小于150ms，控制电路的响应时间那里向小于1ms。可变形镜表面可以镀上宽带金属高反膜或者多层电介质膜。 |