Holoeye空间光调制器 |
ALPAO高速变形镜 |
波前分析仪Phasics |
自适应光学系统 |
数字微反射镜 DMD 数字微镜器件 |
光学元件器件DOE |
光刻仪 |
飞秒激光器 |
皮秒激光器 |
自相关仪 |
超短脉冲测量仪Frog |
超快激光器件 |
高功率连续波OPO |
高功率光纤激光器 |
Qioptiq NANO 激光器 |
低噪声窄线宽激光器 |
可调谐激光器 |
半导体激光器和放大器 |
SLD和ASE宽带光源 |
双波长输出氦氖激光器 |
QIOPTIQ光纤耦合半导体激光器 |
Diode & DPSS_qioptiq |
激光驱动白光光源 |
等离子体宽带光源 |
单色仪 |
光谱仪 |
光栅 |
辐射计 |
防嗮系数分析 |
Optogma固体激光器 |
Solarlight |
波长选择器 |
激光准直仪 |
红外激光观察镜 |
激光功率能量计 |
光学斩波器 |
光束质量分析仪 |
位敏探测器 |
红外相机 |
O/E转换模块探测器 TIA-525S |
太赫兹相机及源 |
太赫兹探测器 |
太赫兹元器件及晶体 |
太赫兹光谱仪 |
太赫兹功率计 |
Optiphase |
微光MOI |
普克尔盒/Pockels Cells |
电光调制器/Electro-Optics Modulators |
法拉第隔离器/Faraday Isolators |
SESAM半导体可饱和吸收镜 |
探测器 |
EOT高速光电探测器 |
其他未分类 |
电化学ECV 扩散浓度 |
接触电阻测量仪 |
四点探针测试仪 |
少子寿命测试仪 |
平行光管 |
光纤跳线及配件 |
无源器件 |
![]() | 少子寿命测量仪 BCT-400测试硅锭少子寿命测量仪BCT-400测试硅锭BCT-400 BCT-400测量系统不需要做表面钝化就能直接测量单晶和多晶硅(锭或块)的少子寿命. 因为少子寿命作为衡量生长和缺陷含量的的最敏感的技术参数,这个工具直接获得长硅的质量参数。 |
![]() | 少子寿命测试仪 WCT-120测试硅片美国Sinton WCT-120少子寿命测试仪采用了准稳定态光电导(QSSPC)测量方法和分析技术。可灵敏地反映单、多晶硅片的重金属污染及陷阱效应、表面复合效应等缺陷情况。WCT在效率大于20%的超高效太阳能电池(HIT,MWT,EWT,PREL,等等)的研发和生产过程中是一种被广泛选用的检测工具。这种QSSPC测量少子寿命的方法可以在电池生产的中间任意阶段得到一个类似光照IV曲线的开压曲线,可以结合最后的IV曲线对电池制作过程进行数据监控和参数优化等工作。 |
![]() | FPS-300闪光电源The FPS-300 is a new flash power supply designed to replace the Quantum power supply stack and flash\r head. |
![]() | 少子寿命测量仪BLS-测试硅棒少子寿命测量仪BLS-I 用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量,除需要有一个测量平面外,对样块\r \r 体形无严格要求,可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体\r \r 内重金属杂质污染及缺陷存在的情况,是单晶质量的重要检测项目。 |
![]() | suns-Voc测试仪suns-Voc测试仪:利用Suns-Voc进行浆料与烧结技术优化,主要测试IV曲线 |
![]() | FMT_CCT这个电池测量系统具有很高精确度,用来测量高效率太阳电池。它用一个专利的频闪技术实现。 |
![]() | SBS-150 少子寿命SBS-150 少子寿命 测量生长块的是获得最终晶圆少子寿命的最好办法.SBS-150体硅少子寿命分析仪对硅锭生长方向上的少子寿命变化特别敏感,能否准确预测切割出的硅片的质量和缺陷状态。 |
![]() | WCT-IL800快速在线监测。实现了准确监控少子寿命,方块电阻和缺陷密度的情况。 |
![]() | 少子寿命测试仪闪光灯 sinton BLS-1 lifetime(设备易损配件)少子寿命测试仪闪光灯泡 sinton wct-120 lifetime(设备易损配件) |
![]() | Ushio 测试灯UXL-10S,UXL-16SUshio 测试灯UXL-10S,UXL-16S日本USHIO UXL-16S 氙灯 ,球形氙灯 ,产品简介:日本USHIO UXL-16S 氙灯 ,球形氙灯 该短弧氙灯主要应用在:太阳能光伏企业的日本进口NPC品牌的太阳能电池片 |
![]() | 供应光伏配件,Berger测试氙灯等供应光伏配件,Berger测试氙灯等 |
![]() | WCT-120PL荧光少子寿命测试仪分别采用瞬态光电导和荧光方法测量硅片到太阳能电池半成品或者成品电池的少子寿命 |
![]() | WCT-120TS变温少子寿命测试仪分别采用QSSPC方法和变温法得出硅片的少子寿命测试仪 |