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瞬渺光电是国内专业光电实验室产品供应商,代理的光学仪器包含:光学仪器,空间光调制器波前分析仪,可变形反射镜,自适应光学系统,DHM等。

 

信息光学:光束相位,强度,波前探测与校正:

1.纯相位反射,透射空间光调制器(德国)  

2. 消色差波前传感器:品种齐全,高分辨率或高速均可(法国)

3.  高速多驱动变形镜:速度快、驱动单元多(法国)

4.  MEMS变形镜:低成本波前校正器(荷兰)

5.  高阈值变形镜:可校正高能激光束的静态、动态波前畸变(俄罗斯)

6.  变形镜:应用于各种光束的波前校正等自适应光学系统(俄罗斯)  

7.  数字微反射镜 DMD

8.衍射光学元件DOE主要用于激光束整形,比如均匀化、准直、聚焦、形成特定图案等。

9. 快速光学快门 FOS
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OptiXplorer灵活的教学演示系统  
OptiXplorer灵活的教学演示系统
OptiXplorer是一款用于教学的演示系统。它为大学物理光学课程提供了多种实验。基本组成:HOLOEYE空间光学调制器(SLM),基于透射式SVGA液晶显示屏。此外还有几本详细的应用指南,一个应用软件和一个激光模块。因此OptiXplorer提供了一个有效的,低成本的教学工具,可以用来示范和探索多种光学现象。
DWL66+  
DWL66+
DWL66+激光光刻系统是一个经济的,高分辨率模式发生器为低容量掩模制造和直写。这个系统的灵活性和功能让最终的光刻研究工具用于微电子机械系统,生物微机电,微光学,专用集成电路,微流体,传感器,计算机全息技术,还有其他的微型机构的应用。用DWL66+的客户在世界范围内包含了超过150个领先的大学和研究设备处。这个系统的很多功能一直在与这些机构进行密切的合作开发。
uPG 101  
uPG 101
uPG 101 是很经济,容易去用微型发生器进行直写应用和低容量掩模制作的一个系统。这个系统可运用的应用有,微电子机械系统、生物微系统、集成光学、微流道或者其他需要高分辨率的微型系统。他的面积很小只有60*1875px^2,独特的紧凑结构,使得所有的电子分量都可以完整的包含在这个系统中。个人电脑可以用来控制这个系统,这个基于操作软件的图形用户界面使用户更容易去进行设计,生成目录,自动对准和生成曝光。
德国HOLOEYE衍射光学元件  
德国HOLOEYE衍射光学元件
衍射光学在工业中的应用越来越广泛。从印刷,材料处理,传感,非接触式测试,生物科技到光学技术和光学测量,衍射光学为激光系统提供了更多的增值。通过在激光光束的光场中使用衍射光学元件(DOE),激光光束的“形状”可以被控制灵活的调整到各种应用需求。
MMDM15 可变形反射镜OKO  
MMDM15 可变形反射镜OKO
OKO微加工薄漠可变形镜(MMDM)的通光孔径范围10~50mm,为激光与望远镜系统中的动态波前校正提供高质量的解决方案。
NightN可变形反射镜  
NightN可变形反射镜
独特功能的高性价比变形反射镜!镜面可以镀任何介质或者金属材料的反射膜。
PHASICS波前分析仪/波前探测器/剪切干涉仪  
PHASICS波前分析仪/波前探测器/剪切干涉仪
法国PHASICS公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析仪相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析,眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案!
荷兰OKO--波前分析仪/波前传感器/波前测量仪  
荷兰OKO--波前分析仪/波前传感器/波前测量仪
OKO公司波前传感器/波前分析仪/波前测量仪的原理是基于Shack -Hatmann,现在主要提供四种类型的波前传感器,用户还可以实际需求定制不用微透镜整列或者不同CCD的波前传感器
自适应系统------NightN  
自适应系统------NightN
闭环自适应光学系统是用来纠正低阶激光光束产生的波前畸变。该系统是利用压电式变形镜作为波前校正器,利用Shack-Hartman波前传感器作为波前测量,闭环软件是用来控制整套校正系统。
法国Phasics--高分辨率波前分析仪/波前传感器/剪切干涉仪  
法国Phasics--高分辨率波前分析仪/波前传感器/剪切干涉仪
法国PHASICS公司自主研发的波前传感器、波前分析仪、波前探测器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析仪相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析,眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案!
PLUTO-UV-099空间光调制器  
PLUTO-UV-099空间光调制器
PLUTO纯相位空间光调制器是基于液晶微显示技术,分辨率可达1920x1080像素。像元大小8μm。PLUTO纯相位空间光调制器包括对应于多种应用领域的波长的一系列产品。
Phasics公司Kaleo光学传递函数测量仪  
Phasics公司Kaleo光学传递函数测量仪
法国 Phasics公司提供Kaleo光学传递函数测量仪,其能提供最完整的透镜特性测试方案,包括离轴MTF和宽波长的波前误差测试。这个系列的MTF测试仪可用于镜头测试,光学表面测试。Kaleo IR 红外透镜的质量控制及测试系统,提供多个红外波长的测试方案。Kaleo MTF for R&D测试仪对于研发的特点是多个波长下进行自动离轴MTF以及波前误差测试。Kaleo i是一款人工晶状体质量控制测试仪。
Spectral Products单色仪  
Spectral Products单色仪
Spectral Products的Digikröm系列单色仪,共有1/8,1/4,1/2米三种焦距可选,内置电子元件的数据驱动简单可靠。内部有一个微机控制的步进电机,最小的移动波长步长为0.01nm。应用广泛,适合于半导体、生物、工业制造、环境监测等多项领域。
SID4-SWIR 波前传感器Phasics  
SID4-SWIR 波前传感器Phasics
法国PHASICS公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析仪相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析,眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案!
SID4-DWIR 波前传感器Phasics  
SID4-DWIR 波前传感器Phasics
法国PHASICS公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析仪相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析,眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案!
SID4-HR 波前传感器Phasics  
SID4-HR 波前传感器Phasics
法国PHASICS公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析仪相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析,眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案!
SID4-UV 波前传感器Phasics  
SID4-UV 波前传感器Phasics
法国PHASICS公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析仪相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析,眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案!
phasics SID4 IR-MCT波前传感器  
phasics SID4 IR-MCT波前传感器
SID4 IR-MCT集成了 Phasics四波横向剪切干涉专利技术和新一代冷却MCT探测系统。这种独特的波前像差分析仪提供了一个非常高分辨率和超高灵敏度,波长范围跨越中波和短波红外范围(从1.2到5.5µµm m)。非常适合微弱光红外光源,如物镜和透镜测试的黑体源或FTIR激光束测量。
SID4-NIR 波前传感器Phasics  
SID4-NIR 波前传感器Phasics
法国PHASICS公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析仪相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析,眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案!
SID4 UV-HR 波前传感器Phasics  
SID4 UV-HR 波前传感器Phasics
法国PHASICS公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析仪相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析,眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案!