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法国Phasics--高分辨率波前分析仪/波前传感器/剪切干涉仪
 
   
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法国Phasics--高分辨率波前分析仪/波前传感器/剪切干涉仪

法国PHASICS公司自主研发的波前传感器、波前分析仪、波前探测器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析仪相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析,眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案!

  • 货  号:G5993AC8621DCE
  • 品  牌:Phasics
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法国Phasics--高分辨率波前分析仪/波前传感器/剪切干涉仪

法国PHASICS公司自主研发的波前传感器波前分析仪、波前探测器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析仪相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析,眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案!

   

法国PHASICS公司自主研发的波前传感器波前分析仪、波前探测器是基于四波横向剪切干涉技术,对哈特曼掩模技术进行了大的升级、改进。PHASICS波前传感器将400X300的超高分辨率和500um的超大动态范围完美结合在了一起。可以满足不同的客户的应用需求,可对激光光束进行光强、位相、PSF(点扩散函数)、MTF(调制传递函数)、OTF(光学传递函数)、波前像差、M²等进行实时、简便、快速的测量。

PHASICS波前传感器波前分析仪、波前探测器--技术优势:

高分辨率的相位图,最高分辨率可达400x300。

具有直接测量高发散光束的能力

消色差,匹配CCD整个探测范围,用于不同波长光而无需额外校准。

PHASICS波前传感器波前分析仪、波前探测器--应用方向:

激光束质量分析

自适应光学

光学元件表面测量

生物成像

热成像,等离子体表面物理

法国PHASICS波前传感器波前分析仪、波前探测器主要型号相关参数: 

 


  SID4     UV HR

SID4 Visible

SID4 Visible HR

  SID4    NIR

SID4 SWIR

  SID4      IR MCT

  SID4     DWIR

SID4 LWIR

波长

 190 – 400 nm

400 – 1100   nm

400 – 1100 nm

1,5 – 1,6   µm

0,4 – 1,7   µm

1,2 – 5,5   µm

3 – 5 µm   and
  8 – 14 µm

8 – 14 µm

孔径

8.0 × 8.0 mm²

3.6 × 4.8 mm²

8.9 × 11.8 mm²

3.6 × 4.8 mm²

9.6 × 7.68 mm²

9.60 x   7.68 mm²

10.08 ×8.16mm²

16 x 12   mm²

空间分辨率

32 µm

29,6 µm

29,6 µm

29,6 µm

60 µm

60 µm

68 µm

100 µm

采样点

250 x 250

160 x 120

300 x 400

160 x 120

160 x 128

160 x 128

160 x 120

160 x 120

精度 (绝对精度)

10 nm RMS

10 nm RMS

15 nm RMS

15 nm RMS

15 nm RMS

75 nm RMS

75 nm RMS

75 nm RMS

分辨率(灵敏度

0,5 nm RMS

< 2 nm   RMS

< 2 nm   RMS

< 11 nm   RMS

< 2 nm   RMS

< 3 nm   RMS

25 nm RMS

25 nm RMS

动态范围

> 200   µm

> 100   µm

> 500   µm

> 100   µm

> 100   µm

300 µm

> 100   µm

> 100   µm

采样频率

30 fps

> 100 fps

> 30 fps

60 fps

120 fps

140 fps

> 50   fps

40 fps

 

Kaleo-T: 光学质量诊断

        KALEO-T (T 代表透射) 可同时测量任何光学系统的像差,聚焦长度,点扩散函数PSF,和MTF,并且无需中继透镜也可直接测量高数值孔径(high NA)的光学系统。 

        作为光学测量设备,Kaleo 可测量球面镜,非球面镜,人工眼睛晶状体, 光学物镜等。
        基于菲兹克斯的独创性波阵面技术(4 波横向剪切干涉法),KALEO 可对透镜进行全面而精确的评估。它可测量球面和非球面系统的像差,MTF,PSF,和焦距。
        该技术可直接测量数值孔径达0.75的光学系统而无需任何中继透镜。


       Kaleo-T 的优势
        一束经过校正并准直的光束经过需评估的透镜后由波阵面探测器进行分析,尽管经透镜后的光束可能是高度发散的,但在透镜和波阵面探测器之间并不需要任何中继透镜。菲兹克斯发明的用于光学测量的技术的主要优点是可获得高分辨率的位相图,从而可非常精确地测出任何光学系统的像差和MTF等特性参数。该仪器的设计非常紧凑并且对环境振动不敏感。KALEO将人性化考量及便于测量操作设计进了其非常可靠的软件中。它的测试报告格式可按用户需求量身定做。在工业生产中,KALEO在生产线上和技术开发部门都可应用。 

        Kaleo-T 详细技术指标

被测透镜直径

从 3 mm 到 20 mm

被测透镜数值孔径

可达 0.3 (f/1.6)

被测透镜焦距 范围

从 3 mm to 50 mm

焦距精度

优于1%

取样点

可达120 x 120 像素点

测量精度

10 nm RMS

测量灵敏度

3 nm RMS

适用波长范围

350 nm – 1100 nm

光源接口

光纤

尺寸

250 x 470 x 350 mm

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