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太阳能产业探针台(Solar Cell 量测系统)太阳能产业探针台(Solar Cell 量测系统)I-V /C-V Curve, Isc, Voc, \r Pmax, Imax, Vmax, RS, Fill Factor,\r Power Convert Efficiency\r 采用KEITHLEY Source Meter\r 可加配任意品牌之太阳光模拟器 |
3S探针台 手动探针台 自动探针台3S探针台:3S提供多种用途探针台,包括:晶圆探针台、平板(LCD/OLED)探针台、RF探针台、LD/PD探针台、高低温探针台、表面电阻率探针台(四探针台)、霍尔效应探针台、客户订制探针台; 提供探针台部件,包括:长工作距离显微镜、防震桌、屏蔽箱、探针座及各种探针、高温卡盘、探针卡、RF探头、适配器、线缆; 已有探针台的升级 |
红外硅锭缺陷检测仪红外硅锭缺陷检测仪:多晶硅铸锭过程中,由于原料,参杂,坩埚及温场控制等诸多原因会造成不同程度的缺陷产生,如:SIC颗粒,隐裂,空洞,微晶等。这些缺陷的存在不能制造合格的多晶硅太阳能电池片,而且对后道切片工艺危害极大。因为SIC硬度极高,会使线据断线。硅裂的存在会使硅片掉落,甚至损坏导轮。 如何在不损伤硅块的前提下检测出这些缺陷,理论上有很多方法,如X光透视,超声波检测,红外投射等都是常用的方法,但综合考虑成本,工作环境,劳动保护,工作效率和操作便捷,红外投射的方法最合适。 国内主要的大厂都有使 |
太阳能电池激光划片机太阳能电池激光划片机:·应用领域\r \r 太阳能光伏行业中,单晶硅、多晶硅及非晶硅太阳能电池片和硅片的划片加工。 \r \r ·产品特点\r \r 采用氪灯泵浦(YAG)激光器,采用声光调制系统、数控X-Y运动工作台及步进电机驱动;\r \r 系统采用国际流行的模块化设计,关键部件均采用进口产品;\r \r 设备高可靠、高精度、高效率;\r \r 软件升级至3.0版且安装移机简单方便; \r \r 高精度一体化恒温循环水冷;长时间运行稳定可靠; |
霍尔效应测试仪霍尔效应测试仪:主要用于量测电子材料之重要特性参数,如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等,薄膜或体材料均可,其原理主要依据范德堡法则。 \r 除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外,它也可应用于LED磊晶层的质量判定,也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成,此未还可以用于太阳能电池片的制程辅助 |
光伏电池板检测显微镜光伏电池板检测显微镜|研究型大平台三目正置式金相显微镜:SDMM-4000C(无穷远光学设计) |
SpectroradiometerSpectroradiometer |
Portable I-V Testers for PV ModulesPortable I-V Testers for PV Modules |
Solar Simulator Uniformity MapperSolar Simulator Uniformity Mapper |
Spectral Response / Quantum Efficiency / IPCE Measurement SystemSpectral Response / Quantum Efficiency / IPCE Measurement System |
Reference CellsReference Cells |
扩展电阻仪 (SRP)SRP (Spreading Resistance Profiling) 扩展电阻测试系统是用一对专用的点接触探针,沿着样品表面以很小的增量步进,测出每一点的扩展电阻值,绘出样品的电阻、电阻率和掺杂浓度的分布曲线。利用SRP法不仅可以得到外延层的电阻率分布等电学性质,而且可以确定外延层的厚度和界面杂质的过渡区分布。 |
半导体行业专用CDE ResMap 四点探针CDE ResMap–CDE 公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺,以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控,既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的 |
变温霍尔效应测试仪Hall8686台湾SWIN公司生产的霍尔效应测试仪 (Hall Effect Measurement System)是性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪,在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知名度。本仪器轻巧方便,易于携带,主要用于量测电子材料之重要特性参数,如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等,薄膜或体材料均可,其原理主要依据范德堡法则。 \r \r \r 除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外,它也可应用于LED磊晶层的质量判定,也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成,此未还可以用 |
FMT_CCT这个电池测量系统具有很高精确度,用来测量高效率太阳电池。它用一个专利的频闪技术实现。 |
Filmetrics光学膜厚测量仪_电池片厚度测试美国Filmetrics光学膜厚测量仪,利用反射干涉的原理进行无损测量,可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率,测量迅速,操作简单,界面友好,是目前市场上最具性价比的膜厚测量仪设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线,波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的,透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。F20、F30、F40、F50 |
I-V 曲线测试仪MP-170是用于测量I-V曲线的先进仪器,可评估太阳能电池组件和阵列的性能。测量范围可从10W光伏组件至 10kW 光伏发电系统。 MP-170对电压的测量范围从10V~ 1000V ,适用于高电压PV阵列。 |
二次离子质谱仪二次离子质谱仪,是最前沿的表面分析技术。二次离子质谱仪揭示了真正表面和近表面原子层的化学组成,其信息量也远远超过了简单的元素分析,可以用于鉴定有机成分的分子结构。二次离子质谱仪广泛应用于微电子技术、化学技术、纳米技术以及生命科学之中,它可以在数秒内对表面的局部区域进行扫描和分析,生成一个表面成分图。 |
Soldaduras Avanzadas聚光型模组量测系统Soldaduras Avanzadas聚光型模组量测系统 |
EKO MP-160 I-V曲线测试仪EKO MP-160 MP-160对太阳模拟器室内评测和室外自然光评测等应用都有出色表现 。MP-160能够完成对大面积电池测量、化合物电池、染料电池等的高精度I-V曲线测量。 |