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SID4 波前传感器Phasics  
SID4 波前传感器Phasics
法国PHASICS公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析仪相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。
PHASICS波前分析仪/波前探测器/剪切干涉仪  
PHASICS波前分析仪/波前探测器/剪切干涉仪
法国PHASICS公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析仪相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析,眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案!
法国Phasics--高分辨率波前分析仪/波前传感器/剪切干涉仪  
法国Phasics--高分辨率波前分析仪/波前传感器/剪切干涉仪
法国PHASICS公司自主研发的波前传感器、波前分析仪、波前探测器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析仪相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析,眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案!
Phasics公司Kaleo光学传递函数测量仪  
Phasics公司Kaleo光学传递函数测量仪
法国 Phasics公司提供Kaleo光学传递函数测量仪,其能提供最完整的透镜特性测试方案,包括离轴MTF和宽波长的波前误差测试。这个系列的MTF测试仪可用于镜头测试,光学表面测试。Kaleo IR 红外透镜的质量控制及测试系统,提供多个红外波长的测试方案。Kaleo MTF for R&D测试仪对于研发的特点是多个波长下进行自动离轴MTF以及波前误差测试。Kaleo i是一款人工晶状体质量控制测试仪。
SID4-SWIR 波前传感器Phasics  
SID4-SWIR 波前传感器Phasics
法国PHASICS公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析仪相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析,眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案!
SID4-DWIR 波前传感器Phasics  
SID4-DWIR 波前传感器Phasics
法国PHASICS公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析仪相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析,眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案!
SID4-HR 波前传感器Phasics  
SID4-HR 波前传感器Phasics
法国PHASICS公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析仪相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析,眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案!
SID4-UV 波前传感器Phasics  
SID4-UV 波前传感器Phasics
法国PHASICS公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析仪相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析,眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案!
phasics SID4 IR-MCT波前传感器  
phasics SID4 IR-MCT波前传感器
SID4 IR-MCT集成了 Phasics四波横向剪切干涉专利技术和新一代冷却MCT探测系统。这种独特的波前像差分析仪提供了一个非常高分辨率和超高灵敏度,波长范围跨越中波和短波红外范围(从1.2到5.5µµm m)。非常适合微弱光红外光源,如物镜和透镜测试的黑体源或FTIR激光束测量。
SID4-NIR 波前传感器Phasics  
SID4-NIR 波前传感器Phasics
法国PHASICS公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析仪相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析,眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案!
SID4 UV-HR 波前传感器Phasics  
SID4 UV-HR 波前传感器Phasics
法国PHASICS公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析仪相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析,眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案!
便携式、高精度光学传递函数(MTF)测量仪  
便携式、高精度光学传递函数(MTF)测量仪
法国Phasics公司高精度MTF测量仪可以提供全面的镜头测试:轴上MTF,轴外MTF,波前像差,EFL,泽尼克像差(Zernike aberrations)及多波长(250-400nm,400-1100nm,900-1700nm,1um-2.35um,3-5um& 8-12um)测量。
法国Phasics推出真空环境兼容波前分析仪SID4-V  
法国Phasics推出真空环境兼容波前分析仪SID4-V
为满足广大客户在真空环境中对激光光束质量,气流,等离子体密度测量分析,以及光学系统装配的需求。法国phasics推出了新型高精度波前分析仪sid4-v,是目前市场上仅有一款可应用于真空度在10-6 mbar环境中的波前分析仪,广泛应用于高功率激光测试中
Kaleo MTF Measurement Station  
Kaleo MTF Measurement Station
Phasics innovative solution delivers the most complete lens characterization: off-axis MTF and wavefront error at multiple wavelengths. It benefits from Phasics patented technology to provide accurate results even for large Field of View (FoV). Kaleo MTF
SID4 V Vacuum  
SID4 V Vacuum
Phasics is innovating by proposing the first off-the-shelf vacuum compatible wavefront sensor on the market. The SID4 V is designed to perform wavefront measurements under high vacuum. the wavefront measurement is realized in-situ in the same condition as
SID4 UV  
SID4 UV
COST-EFFECTIVE UV WAVEFRONT SENSOR | High resolution (62 500 phase pixels)
SID4  
SID4
HIGH RESOLUTION WAVEFRONT SENSOR | 400-1100 nm
SID4 SWIR  
SID4 SWIR
COST-EFFECTIVE | HIGH RESOLUTION + HIGH SENSITIVITY |for shortwave infrared
SID4 SWIR-HR  
SID4 SWIR-HR
HIGH RESOLUTION + HIGH SENSITIVITY | for shortwave infrared
SID4-eSWIR  
SID4-eSWIR
HIGH RESOLUTION EXTENDED SWIR WAVE FRONT SENSOR
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