__空间光调制器|波前测试仪|变形镜|激光器瞬渺

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Femtosecond Laser Source

Femtosecond Laser, 10mW: FSL1010\r High Power Femtosecond Laser, Up to 150mW: FSL1010HP

扩展电阻仪 (SRP)

SRP (Spreading Resistance Profiling) 扩展电阻测试系统是用一对专用的点接触探针，沿着样品表面以很小的增量步进，测出每一点的扩展电阻值，绘出样品的电阻、电阻率和掺杂浓度的分布曲线。利用SRP法不仅可以得到外延层的电阻率分布等电学性质，而且可以确定外延层的厚度和界面杂质的过渡区分布。

LETO-3 纯相位空间光调制器

LETO-3 纯相位空间光调制器基于液晶微显示技术，分辨率可达1920x1080像素。像元大小6.4μm、间距0.2μm，LETO-3SLM提供93%的高效填充因子从而有较高的光利用率。

深能级瞬态谱仪（Deep Level Transient Spectroscopy system）

深能级瞬态谱仪是半导体领域研究和检测半导体杂质、缺陷深能级、界面态等的重要技术手段！测试功能：电容模式、定电容模式、电流模式、（双关联模式）、Zerbst模式、光激发模式、FET分析、MOS分析、等温瞬态谱、Trap profiling、俘获截面测量、I/V,I/V(T) 查理森Plot分析、C/V, C/V(T) 、TSC/TSCAP 、光子诱导瞬态谱、DLOS；测试根据半导体P-N结、金-半接触结构肖特基结的瞬态电容（△C~t）技术和深能级瞬态谱的发射率窗技术测量出的深能级瞬态谱，是一种具

WCT-120PL荧光少子寿命测试仪

分别采用瞬态光电导和荧光方法测量硅片到太阳能电池半成品或者成品电池的少子寿命

WCT-120TS变温少子寿命测试仪

分别采用QSSPC方法和变温法得出硅片的少子寿命测试仪

德国Nanoscribe的纳米级高分辨率3D打印系统

主要特征 1.具有 100 nm 特征尺寸控制的高速高分辨率 3D 微纳加工 2.广泛的基板和晶圆，最大可达 8 英寸 3.工业批量处理：200 种典型的中尺度结构可在一夜之间打印 4.通过花岗岩基层和减振实现高机械和热稳定性 5.个性化定制系统，适用于广泛应用，是多用户设施的理想选择

光伏适用电化学ECV 掺杂浓度检测电化学CV分布仪（CV测试仪）电化学CV剖面分析仪电化学CV载流子浓度

光伏使用电化学ECV 掺杂浓度检测电化学CV分布仪（CV测试仪）电化学CV剖面分析仪电化学CV载流子浓度

suns-Voc测试仪

suns-Voc测试仪:利用Suns-Voc进行浆料与烧结技术优化，主要测试IV曲线

非接触式电阻率测试仪 Contactless Resistivity Systems

Filmetrics光学膜厚测量仪_电池片厚度测试

美国Filmetrics光学膜厚测量仪，利用反射干涉的原理进行无损测量，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速，操作简单，界面友好，是目前市场上最具性价比的膜厚测量仪设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的，透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。F20、F30、F40、F50

少子寿命测量仪BLS-测试硅棒

少子寿命测量仪BLS-I 用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量，除需要有一个测量平面外，对样块\r \r 体形无严格要求，可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体\r \r 内重金属杂质污染及缺陷存在的情况，是单晶质量的重要检测项目。

太阳能电池量子效率测试系统

太阳能电池量子效率测试系统：太阳能电池量子效率测量系统（光谱响应测试系统、IPCE测试系统），广泛应用于各种太阳能电池包括单结、多结薄膜太阳能电池的SR光谱响应，EQE外量子效率，IQE内量子效率，IPCE，相对反射率，绝对反射率，相对透射率，绝对透射率等测量和研究；匹配国际测试标准：IEC 60904-8, & ASTM E1021-(2001)测试标准；波长范围：300nm~1100nm, 可扩展至1800 nm

微波反射光电导衰退法少子寿命分析仪

ERIS纯相位型空间光调制器

ERIS 纯相位空间光调制器是基于液晶微显示技术，分辨率可达 1920x1200 像素。像元大小 8μm。 ERIS纯相位空间光调制器提供可见光波段和通信波段的型号可供选择，覆盖从 400nm 到 1600nm 的波长。具有极高的相位稳定性、低延迟和低串扰