__空间光调制器|波前测试仪|变形镜|激光器瞬渺

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光束诱导电流检测系统 LBIC

光束诱导电流检测系统 LBIC：LBIC mapping system( Light-Beam Induced Current，光束诱导电流检测系统)------是一种高分辨、非直接接触的分析手段，可以表征太阳能电池的几何结构信息、少子扩散长度等参数，以及量子效率，反射率分布表征，为太阳能电池优化结构提供参考依据，广泛应用到单晶硅、多晶硅、非晶硅、碲化镉、CIGS等各种传统或新型的太阳能电池的研究和生产。??????????麦????????????????????,

CDE ResMap Model 468

CDE　ResMap–CDE　公司生产之电阻值测试系统CDE ResMap Model 468 是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的

ECV校准硅片

ECV校准硅片 CVP-CS

Spectral Response / Quantum Efficiency / IPCE Measurement Systems

太阳能模拟器（SCD1)IV测试仪

这种测试仪适用于已经有光源的用户，仅采集IV数据。

Alpao波前传感器

Alpao夏克哈特曼（Shack-Hartmann）波前传感器（WFS）是专门为自适应光学系统设计的。

变温霍尔效应测试仪Hall8686

台湾SWIN公司生产的霍尔效应测试仪 (Hall Effect Measurement System)是性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪，在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知名度。本仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。 \r \r \r 除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用

CoreScan荷兰SunLab Corescan、Sherescan测试系统

荷兰SunLab Corescan、Sherescan测试系统. 通过CoreScan扫描Rs，可以得到整个电池片的串联电阻分布图。从而判断影响此因素的原因，如：烧结温度过高过低、磷硅玻璃是否去除干净，发射层是否平整均匀，电极是否有虚印、断线等等

CVP21-SCE Saturated Calomel Electrode 参考电极

单腔室和多腔室薄膜沉积设备

MVSystems 公司设计，制造和提供各类单腔室和多腔室薄膜沉积设备。另外，根据用户的需求，各种PECVD，HWCVD，和PVD腔室可以单个制造，也可配备到现有的团簇型（星型）或是直线型沉积系统。MVSystems具有制造用于各类研发，中试以及小型生产设备的强大能力和丰富经验，所生产的设备已成功地使用在全世界23个国家的大学，研究院所和公司。我们公司的工程部门可最大限度地为用户着想，以使用户们获取他们最需要的且价格合适的设备。

太阳能晶片检测

太阳能晶片检测：

量子效率测量系统

即时性內部量子效率测量。大幅降低紫外光領域的迷光现象，对高量子效率的样品展現出优异的测量性能。搭配低迷光对应光谱仪，实现高感度、高稳定性的光谱解析。激发光源采用光栅搭配滤光镜分光、可任意选择单一波长。(选配)

硅块红外检测仪

霍尔效应测试仪

霍尔效应测试仪：主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。 \r 除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用于太阳能电池片的制程辅助

电致发光影像分析(Electroluminescence, EL)

电致发光影像分析(Electroluminescence, EL)：大小裂痕(large and microcracks)、缺损(holes)、杂质(inclusion)、扩散深度(diffusion length)及接触或传导不良区域

标准太阳能电池 Reference Cells

台式太阳能电池缺陷检测仪

红外硅锭缺陷检测仪

红外硅锭缺陷检测仪：多晶硅铸锭过程中，由于原料，参杂，坩埚及温场控制等诸多原因会造成不同程度的缺陷产生，如：SIC颗粒，隐裂，空洞，微晶等。这些缺陷的存在不能制造合格的多晶硅太阳能电池片，而且对后道切片工艺危害极大。因为SIC硬度极高，会使线据断线。硅裂的存在会使硅片掉落，甚至损坏导轮。如何在不损伤硅块的前提下检测出这些缺陷，理论上有很多方法，如X光透视，超声波检测，红外投射等都是常用的方法，但综合考虑成本，工作环境，劳动保护，工作效率和操作便捷，红外投射的方法最合适。国内主要的大厂都有使

CDE ResMap Model 463-FOUP and 463-OC

CDE　ResMap–CDE　公司生产之电阻值测试系统CDE ResMap Model 463-FOUP and 463-OC是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的