Jandel通用型四探针测试仪 4探针测试系统（4 point probe measurement system)

Jandel公司提供的RM300测试单元结合可调节高度支架探头,可为各种各样的测量提供解决方案.

这种组合方式是目前jandel公司最受欢迎的产品.

该系统可用于测量各种薄层的小尺寸样本以及直径300mm高250mm的晶圆锭 (检测厚样品之前要咨询)。

系统配置

组成部件：

1. 1.     测试台——一个

2. 2.     可调节高度主机——一台

3. 3.     可调节高度轴杆——一根

4. 4.     四探针探头——一个

5. 5.     连接电缆——一根

设备尺寸：

可调节高度测试台： W×L×H（mm）250×290×8（320×370×8，可选）

可调节高度探头组件：W×L×H（mm）60×280×80（60×330×80，可选）

可调节高度的轴杆:D（mm）19；L（mm）200（可定制最高高度到1000mm）