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CT400无源光器件测试仪
产品简介
传统光器件和光模块的光损耗测试一般有两种方法：采用自己搭建的步进式测试方案或完整的集成式扫描系统。前者由于自身系统的限制，很难满足光传递过程中连续扫描测试的需求；而后者尽管在性能上可以得到保障，但是由于系统的价格和扩展性较差，也很难被用户所接受。
CT-400采用先进的设计理念，克服了两种测试方法的缺点，形成了业界最为完整的、紧凑型的光损耗测试方案，这种方案价格低，波长范围宽，可以在很宽的光谱范围内对光器件和光模块的光功率、光波长、光损耗和光偏振进行精确测试。
产品特点:
技术参数:
