__空间光调制器|波前测试仪|变形镜|激光器瞬渺

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Phasics公司Kaleo光学传递函数测量仪

法国 Phasics公司提供Kaleo光学传递函数测量仪，其能提供最完整的透镜特性测试方案，包括离轴MTF和宽波长的波前误差测试。这个系列的MTF测试仪可用于镜头测试，光学表面测试。Kaleo IR 红外透镜的质量控制及测试系统，提供多个红外波长的测试方案。Kaleo MTF for R&D测试仪对于研发的特点是多个波长下进行自动离轴MTF以及波前误差测试。Kaleo i是一款人工晶状体质量控制测试仪。

Mini-Chrom单色仪

Mini-Chrom单色仪是一系列结构紧凑、焦距74mm、Fastie-Ebert型结构的小型单色仪产品，非常适合一般的光谱学应用以及OEM系统集成。

美国Optofluidic品牌nanotweezer微流控纳米拉曼光镊(NanoTweezer Raman)

iFLEX-iRIS系列高稳定激光器

iFLEX-iRIS是Qioptiq最新推出的小型化激光器，它具有紧凑的结构封装，主动的温度控制功能使得输出波长异常稳定，无任何跳模现象。同时具有高性能，低噪声，高稳定性的特点。Qioptiq特有的KineFLEX单模保偏光纤传输系统提供即插即用的特性，使其输出可以在自由光和光纤输出间自由切换，实现一机两用。

Origami XP高能量一体式飞秒光纤激光器

Origami XP是市场上第一款一体式、微焦量级飞秒激光器。激光头、控制器和风冷系统都集成在一个盒子内，体积为280×498×155mm3，甚至可以放进手提箱内。Origami XP基于独特的低噪声超稳定Origami飞秒种子激光器。简单紧凑啁啾脉冲放大系统可获得单脉冲能量>40μJ，平均功率达到4W，脉宽低于400fs的脉冲激光。该激光器具有远程控制能力。Origami XP主要用于简单和高性价比的系统集成。激光器外壳上有可移动把手，具有安装通孔，包括精密的机械基准面。

激光扩束镜

LINOS的激光扩束器由于其精准、可靠的性能非常适用于高端激光材料的加工。它能改变激光光束的直径，以适应整个系统对于光斑尺寸的要求。同时，它也能减少其他光学组件给系统带来的不良影响。激光扩束镜能有效控制光束的聚焦，降低光束的衍射和发散。

德国HOLOEYE衍射光学元件

衍射光学在工业中的应用越来越广泛。从印刷，材料处理，传感，非接触式测试，生物科技到光学技术和光学测量，衍射光学为激光系统提供了更多的增值。通过在激光光束的光场中使用衍射光学元件（DOE），激光光束的“形状”可以被控制灵活的调整到各种应用需求。

PHASICS波前分析仪/波前探测器/剪切干涉仪

法国PHASICS公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析仪相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析，眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案！

bolometer热辐射计

bolometer对热辐射非常敏感，主要用于10至5000µm（30THz至60GHz）之间的红外光谱中。检测器元件是一个非常敏感的热敏电阻，它被冷却到LHe温度以降低热本底。

OFS 保偏色散补偿光纤

Lyncee tec反射式数字全息显微镜

瑞士Lyncee Tec SA www.lynceetec.com 瑞士Lyncee Tec SA公司的数字全息显微镜“DHM（Digital Holographic Microscopy）是划时代性的高科技技术产品，科学史上第一次, 数字全息显微镜可以直接观测到纳米尺度的分辨率,即时得到样品三维型貌,并且是无接触式的无损测量。

XWS-30 紧凑型等离子体宽带光源

XWS-30是XWS-65标准款的紧凑型一体化版本，将泵浦激光放置在发光单位的灯室中，因此无需额外的驱动器来供电就可独立运行。与XWS-65相比，其体积小、发热量低，造型紧凑，使其非常适合集成到设备中。

太赫兹面阵探测器

太赫兹面阵探测器美国TERASENSE公司提供高快速响应太赫兹面阵探测器，分辨率16×16，32×32，64×64可选。探测器采用GaAs单晶片设计，体积紧凑小巧。探测单元响应度偏差小于20%。可方便用于快速的太赫兹光斑检测、无损检测、医学成像诊断等应用中

Denselight DL-CS5169A 1550nm超辐射发光二极管（SLD）

KineFLEX可插拔单模光纤耦合系统

KineFLEX可插拔单模光纤耦合系统 kineFLEX™是一个单模光纤耦合输出系统，它能轻松的把激光耦合进单模光纤之中。光纤将会自动匹配你的激光参数，传输效率高于65%。本品具有即插即用特性，亚微米的重复精准性和稳定性确保只需要对准一次，即可多次插拔，无需再次对准。非常适合于精密测量等领域。本产品结构设计紧凑，坚固耐用，可用于高真空等特殊环境下。

WAFER PROFILER CVP21

WAFER PROFILER CVP21\r \r The Wafer Profiler CVP21 is a handy tool to measure doping profiles in semiconductor layers by Electrochemical Capacitance Voltage Profiling (ECV-Profiling, CV-Profiling) in semiconductor research or production.\r This ECV Profi