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变温霍尔效应测试仪Hall8686  
变温霍尔效应测试仪Hall8686
台湾SWIN公司生产的霍尔效应测试仪 (Hall Effect Measurement System)是性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪，在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知名度。本仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。 \r \r \r 除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用
FMT_CCT  
FMT_CCT
这个电池测量系统具有很高精确度，用来测量高效率太阳电池。它用一个专利的频闪技术实现。
Filmetrics光学膜厚测量仪_电池片厚度测试  
Filmetrics光学膜厚测量仪_电池片厚度测试
美国Filmetrics光学膜厚测量仪，利用反射干涉的原理进行无损测量，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速，操作简单，界面友好，是目前市场上最具性价比的膜厚测量仪设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的，透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。F20、F30、F40、F50
I-V 曲线测试仪  
I-V 曲线测试仪
MP-170是用于测量I-V曲线的先进仪器，可评估太阳能电池组件和阵列的性能。测量范围可从10W光伏组件至 10kW 光伏发电系统。 MP-170对电压的测量范围从10V～ 1000V ，适用于高电压PV阵列。
二次离子质谱仪  
二次离子质谱仪
二次离子质谱仪，是最前沿的表面分析技术。二次离子质谱仪揭示了真正表面和近表面原子层的化学组成，其信息量也远远超过了简单的元素分析，可以用于鉴定有机成分的分子结构。二次离子质谱仪广泛应用于微电子技术、化学技术、纳米技术以及生命科学之中，它可以在数秒内对表面的局部区域进行扫描和分析，生成一个表面成分图。
Soldaduras Avanzadas聚光型模组量测系统  
Soldaduras Avanzadas聚光型模组量测系统
Soldaduras Avanzadas聚光型模组量测系统
EKO MP-160 I-V曲线测试仪  
EKO MP-160 I-V曲线测试仪
EKO MP-160 MP-160对太阳模拟器室内评测和室外自然光评测等应用都有出色表现 。MP-160能够完成对大面积电池测量、化合物电池、染料电池等的高精度I-V曲线测量。
ESS-200XIL 太阳光模拟器  
ESS-200XIL 太阳光模拟器
ESS-200XIL 太阳光模拟器 ESS-200XIL太阳光模拟器使用精确校准的光源，模拟自然太阳光照射。同I-V曲线测试仪配合可作为室内太阳能电池测试系统。
日照强度计，带有空气流通系统  
日照强度计，带有空气流通系统
日照强度计MS-802/402/602用于测量大气中接受到的太阳照射能量。传感器采用对全波段都有平整光谱响应的温差热电堆。当日照辐射被传感器的黑体表面吸收，由于冷/热连接点的温差导致热-电效应，热电堆产生电信号。
LS-100  
LS-100
LS-100
碳氧含量分析仪Nicolet 6700测试仪 傅立叶红外光谱仪  
碳氧含量分析仪Nicolet 6700测试仪 傅立叶红外光谱仪
碳氧含量分析仪Nicolet 6700测试仪 傅立叶红外光谱仪
SBS-150 少子寿命  
SBS-150 少子寿命
SBS-150 少子寿命 测量生长块的是获得最终晶圆少子寿命的最好办法.SBS-150体硅少子寿命分析仪对硅锭生长方向上的少子寿命变化特别敏感，能否准确预测切割出的硅片的质量和缺陷状态。
WCT-IL800  
WCT-IL800
快速在线监测。实现了准确监控少子寿命，方块电阻和缺陷密度的情况。
Ushio 测试灯UXL-10S，UXL-16S  
Ushio 测试灯UXL-10S，UXL-16S
Ushio 测试灯UXL-10S，UXL-16S日本USHIO UXL-16S 氙灯 ，球形氙灯 ，产品简介:日本USHIO UXL-16S 氙灯 ，球形氙灯 该短弧氙灯主要应用在：太阳能光伏企业的日本进口NPC品牌的太阳能电池片
供应光伏配件，Berger测试氙灯等  
供应光伏配件，Berger测试氙灯等
供应光伏配件，Berger测试氙灯等
深能级瞬态谱仪（Deep Level Transient Spectroscopy system）  
深能级瞬态谱仪（Deep Level Transient Spectroscopy system）
深能级瞬态谱仪是半导体领域研究和检测半导体杂质、缺陷深能级、界面态等的重要技术手段！测试功能：电容模式、定电容模式、电流模式、（双关联模式）、Zerbst模式、光激发模式、FET分析、MOS分析、等温瞬态谱、Trap profiling、俘获截面测量、I/V,I/V(T) 查理森Plot分析、C/V, C/V(T) 、TSC/TSCAP 、光子诱导瞬态谱、DLOS； 测试根据半导体P-N结、金-半接触结构肖特基结的瞬态电容（△C~t）技术和深能级瞬态谱的发射率窗技术测量出的深能级瞬态谱，是一种具
CoreScan荷兰SunLab Corescan、Sherescan测试系统  
CoreScan荷兰SunLab Corescan、Sherescan测试系统
荷兰SunLab Corescan、Sherescan测试系统. 通过CoreScan扫描Rs，可以得到整个电池片的串联电阻分布图。从而判断影响此因素的原因，如：烧结温度过高过低、磷硅玻璃是否去除干净，发射层是否平整均匀，电极是否有虚印、断线等等
单腔室和多腔室薄膜沉积设备  
单腔室和多腔室薄膜沉积设备
MVSystems 公司设计，制造和提供各类单腔室和多腔室薄膜沉积设备。另外，根据用户的需求，各种PECVD，HWCVD，和PVD腔室可以单个制造，也可配备到现有的团簇型（星型）或是直线型沉积系统。MVSystems具有制造用于各类研发，中试以及小型生产设备的强大能力和丰富经验，所生产的设备已成功地使用在全世界23个国家的大学，研究院所和公司。我们公司的工程部门可最大限度地为用户着想， 以使用户们获取他们最需要的且价格合适的设备。
CDE ResMap Model 463-FOUP and 463-OC  
CDE ResMap Model 463-FOUP and 463-OC
CDE　ResMap–CDE　公司生产之电阻值测试系统CDE ResMap Model 463-FOUP and 463-OC是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的
CDE ResMap Model 468  
CDE ResMap Model 468
CDE　ResMap–CDE　公司生产之电阻值测试系统CDE ResMap Model 468 是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的
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