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分类名称： 电化学ECV 扩散浓度 接触电阻测量仪 四点探针测试仪 少子寿命测试仪
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少子寿命测试仪 WCT-120测试硅片  
少子寿命测试仪 WCT-120测试硅片
美国Sinton WCT-120少子寿命测试仪采用了准稳定态光电导(QSSPC)测量方法和分析技术。可灵敏地反映单、多晶硅片的重金属污染及陷阱效应、表面复合效应等缺陷情况。WCT在效率大于20%的超高效太阳能电池(HIT,MWT,EWT,PREL,等等)的研发和生产过程中是一种被广泛选用的检测工具。这种QSSPC测量少子寿命的方法可以在电池生产的中间任意阶段得到一个类似光照IV曲线的开压曲线，可以结合最后的IV曲线对电池制作过程进行数据监控和参数优化等工作。
少子寿命测量仪 BCT-400测试硅锭  
少子寿命测量仪 BCT-400测试硅锭
少子寿命测量仪BCT-400测试硅锭BCT-400 BCT-400测量系统不需要做表面钝化就能直接测量单晶和多晶硅（锭或块）的少子寿命. 因为少子寿命作为衡量生长和缺陷含量的的最敏感的技术参数，这个工具直接获得长硅的质量参数。
WCT-120PL荧光少子寿命测试仪  
WCT-120PL荧光少子寿命测试仪
分别采用瞬态光电导和荧光方法测量硅片到太阳能电池半成品或者成品电池的少子寿命
WCT-IL800  
WCT-IL800
快速在线监测。实现了准确监控少子寿命，方块电阻和缺陷密度的情况。
WCT-120TS变温少子寿命测试仪  
WCT-120TS变温少子寿命测试仪
分别采用QSSPC方法和变温法得出硅片的少子寿命测试仪
FMT_CCT  
FMT_CCT
这个电池测量系统具有很高精确度，用来测量高效率太阳电池。它用一个专利的频闪技术实现。
SBS-150 少子寿命  
SBS-150 少子寿命
SBS-150 少子寿命 测量生长块的是获得最终晶圆少子寿命的最好办法.SBS-150体硅少子寿命分析仪对硅锭生长方向上的少子寿命变化特别敏感，能否准确预测切割出的硅片的质量和缺陷状态。
suns-Voc测试仪  
suns-Voc测试仪
suns-Voc测试仪:利用Suns-Voc进行浆料与烧结技术优化，主要测试IV曲线
FPS-300闪光电源  
FPS-300闪光电源
The FPS-300 is a new flash power supply designed to replace the Quantum power supply stack and flash\r head.
少子寿命测量仪BLS-测试硅棒  
少子寿命测量仪BLS-测试硅棒
少子寿命测量仪BLS-I 用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量，除需要有一个测量平面外，对样块\r \r 体形无严格要求，可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体\r \r 内重金属杂质污染及缺陷存在的情况，是单晶质量的重要检测项目。