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SID4 SWIR  
SID4 SWIR
COST-EFFECTIVE | HIGH RESOLUTION + HIGH SENSITIVITY |for shortwave infrared
KaleoMultiWAVE  
KaleoMultiWAVE
The Kaleo-MultiWAVE bench is a unique instrument that delivers wavefront error at multiple wavelengths. Optics such as lenses, filters or mirrors can be characterized at their working wavelength. The KaleoMultiWAVE works at different wavelengths to perfor
紧凑型矢量光场生成系统  
紧凑型矢量光场生成系统
矢量光场可广泛应用于光学捕获和操纵、表面等离子体、光学加工、焦场工程、量子信息处理、超分辨率显微成像、光通信等方面。上海瞬渺光电近期推出的Model:CVOFG-100是一款基于反射型液晶空间光调制器的便携式、紧凑型多功能矢量光场发生器,可以生成任意复杂光束。
便携式IV测试仪 太阳模拟器  
便携式IV测试仪 太阳模拟器
便携式IV测试仪,太阳模拟器,可以测组件。
基于空间光调制器的彩色全息显示系统  
基于空间光调制器的彩色全息显示系统
德国Holoeye空间光调制器的彩色全息显示解决方案 采用Holoeye的液晶纯相位空间光调制器和瑞士FISBA公司的READYBeam 三色激光器,采用时分复用方法实现彩色图像调制。 Holoeye的GAEA,LETO-3-CFS-017和LUNA这 3种类型的空间光调制器,都可以在色序CFS(color-field-sequential )模式下进行工作。
太阳能板检测专用数码相机-太阳能电池检测相机,高灵敏致冷CCD相机  
太阳能板检测专用数码相机-太阳能电池检测相机,高灵敏致冷CCD相机
太阳能板检测专用数码相机-太阳能电池检测相机,高灵敏致冷CCD相机
电致发光影像分析(Electroluminescence, EL)  
电致发光影像分析(Electroluminescence, EL)
电致发光影像分析(Electroluminescence, EL):大小裂痕(large and microcracks)、缺损(holes)、杂质(inclusion)、扩散深度(diffusion length)及接触或传导不良区域
少子寿命测量仪BLS-测试硅棒  
少子寿命测量仪BLS-测试硅棒
少子寿命测量仪BLS-I 用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量,除需要有一个测量平面外,对样块\r \r 体形无严格要求,可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体\r \r 内重金属杂质污染及缺陷存在的情况,是单晶质量的重要检测项目。
suns-Voc测试仪  
suns-Voc测试仪
suns-Voc测试仪:利用Suns-Voc进行浆料与烧结技术优化,主要测试IV曲线
FMT_CCT  
FMT_CCT
这个电池测量系统具有很高精确度,用来测量高效率太阳电池。它用一个专利的频闪技术实现。
Filmetrics光学膜厚测量仪_电池片厚度测试  
Filmetrics光学膜厚测量仪_电池片厚度测试
美国Filmetrics光学膜厚测量仪,利用反射干涉的原理进行无损测量,可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率,测量迅速,操作简单,界面友好,是目前市场上最具性价比的膜厚测量仪设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线,波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的,透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。F20、F30、F40、F50
I-V 曲线测试仪  
I-V 曲线测试仪
MP-170是用于测量I-V曲线的先进仪器,可评估太阳能电池组件和阵列的性能。测量范围可从10W光伏组件至 10kW 光伏发电系统。 MP-170对电压的测量范围从10V~ 1000V ,适用于高电压PV阵列。
EKO MP-160 I-V曲线测试仪  
EKO MP-160 I-V曲线测试仪
EKO MP-160 MP-160对太阳模拟器室内评测和室外自然光评测等应用都有出色表现 。MP-160能够完成对大面积电池测量、化合物电池、染料电池等的高精度I-V曲线测量。
日照强度计,带有空气流通系统  
日照强度计,带有空气流通系统
日照强度计MS-802/402/602用于测量大气中接受到的太阳照射能量。传感器采用对全波段都有平整光谱响应的温差热电堆。当日照辐射被传感器的黑体表面吸收,由于冷/热连接点的温差导致热-电效应,热电堆产生电信号。
SBS-150 少子寿命  
SBS-150 少子寿命
SBS-150 少子寿命 测量生长块的是获得最终晶圆少子寿命的最好办法.SBS-150体硅少子寿命分析仪对硅锭生长方向上的少子寿命变化特别敏感,能否准确预测切割出的硅片的质量和缺陷状态。
WCT-IL800  
WCT-IL800
快速在线监测。实现了准确监控少子寿命,方块电阻和缺陷密度的情况。
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