__空间光调制器|波前测试仪|变形镜|激光器瞬渺

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太赫兹量子级联激光器

太赫兹是安全和非电离的，它桥接了中红外和微波波段。Easy QCL系统是一种交钥太赫兹辐射源，使用免制冷剂的斯特林循环冷却系统，无需额外校准。部分用户可互换多模QCL模块，在1.8至5THz范围内提供毫瓦级功率。

日光浴床检测表

日光浴床检测表可以测量UV-B光谱中的MED以及UVC辐射。检测表可以以最小红斑剂量/每小时（MED/Hr）显示UV-B（也叫SUV-Sunburning UV）强度，公认的对潜在晒伤的临床测试。UVC探测器测量275nm-285nm的光强度，并以毫瓦/每平方厘米显示。这些测量都依照日光浴床输出欧洲标准进行测量。

便携的I - V光伏组件测试仪Portable I-V Testers for PV Modules

PMA 2104 水下UVB 探测器

PMA2104 探测器可对日光以及人造光源的生物权重紫外辐射进行精密测量，也被称为晒伤紫外辐射（SUV）。其光谱响应跟红斑作用光谱相接近。

PMA 2120 紫外辐射安全探测器

PMA2120紫外辐射安全探测器可对工业生产过程中可能对工人造成辐射危害的辐射线进行精确测量。

购置SPF-290AS 的用户必须使用预辐照光源完成相关测试。1. 将遮光剂涂于 PMMA 板或者其他介质表面。2. 对 PMMA 板进行预辐照。FDA 规定是4MEDs。COLIPA 的规定更多取决于用于测试的材料。3. 对经过预辐照的PMMA板进行分析。可对1，4，或者9 个 PMMA 板提供 4MED（1 MED = 210 J/m² = 0.021 J/cm² = 21mJ/cm² (effective)）剂量的预辐照。

太赫兹传感器

TeraPyro 太赫兹传感器，带有可移动预对准透镜，基于焦电子技术 >从0.1到30 THz>脉冲操作（QCW）> 4mm²单像素

TMS温度控制系统

Holoeye有性能优异的PLUTO-2系列和GAEA-2系列液晶面板。但是，由于液晶的固有性质，为了达到最好的效果，需要保持理想的温度，因此，TMS系列温控系统就应运而生了。新一代的PLUTO-2和GAEA-2为了解决液晶发热问题，已经自带了基本的热沉支架，但为了适应高功率和高精度的液晶调节，Holoeye公司开发了可以附加安装的温控系统。 MS001系统可以用于在实验室温度下，将液晶温度保持在呈下行工作温度下（30到35摄氏度）。但对在高强度激光下使用的液晶，TMS 002则是更合适的选择。

FWS Auto自动波长选择器 Mono系列

FWS Mono是一款基于专利的TwinFilm™技术的可调波长选择器，将光栅单色仪的波长和带宽调谐与大孔径滤光片的成像优势相结合，通过USB接口传输控制。 FWS波长选择器是一个简单的、交钥匙的解决方案，具有消光和优秀的传输性能。

SID4

HIGH RESOLUTION WAVEFRONT SENSOR | 400-1100 nm

SID4 LWIR

HIGH RESOLUTION PHASE & INTENSITY | in the far infrared region

SID4-sC8

Designed for life science and material inspection microscopes, SID4-sC8 brings fast, accurate and truly quantitative phase measurement in a compact, plug-and-play solution. Biologists will benefit from label-free cell imaging, high sensitivity and automat

少子寿命测量仪BLS-测试硅棒

少子寿命测量仪BLS-I 用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量，除需要有一个测量平面外，对样块\r \r 体形无严格要求，可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体\r \r 内重金属杂质污染及缺陷存在的情况，是单晶质量的重要检测项目。

台式太阳能电池缺陷检测仪

Jandel通用型四探针测试仪 4探针测试系统（4 point probe measurement system)

Spectroradiometer

Portable I-V Testers for PV Modules

Reference Cells

变温霍尔效应测试仪Hall8686

台湾SWIN公司生产的霍尔效应测试仪 (Hall Effect Measurement System)是性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪，在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知名度。本仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。 \r \r \r 除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用