__空间光调制器|波前测试仪|变形镜|激光器瞬渺

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Kaleo i

The Kaleo-I instrument is especially designed for the quality control of refractive intraocular lens, whether spherical, aspheric, toric or bifocal. It achieves fast and reliable measurements thanks to the integration of our high resolution wavefront sens

紧凑型矢量光场生成系统

矢量光场可广泛应用于光学捕获和操纵、表面等离子体、光学加工、焦场工程、量子信息处理、超分辨率显微成像、光通信等方面。上海瞬渺光电近期推出的Model：CVOFG-100是一款基于反射型液晶空间光调制器的便携式、紧凑型多功能矢量光场发生器，可以生成任意复杂光束。

【人眼安全】 1,54 µm纳秒激光器 Kaukas HR

Kaukas-HR系列1.54μm波长纳秒固体激光器，每脉冲可提供高达50μJ的能量，重复频率高达1 kHz。设计紧凑，支持OEM定制可用于各项应用。

超辐射发光二极管

XWS-30 紧凑型等离子体宽带光源

XWS-30是XWS-65标准款的紧凑型一体化版本，将泵浦激光放置在发光单位的灯室中，因此无需额外的驱动器来供电就可独立运行。与XWS-65相比，其体积小、发热量低，造型紧凑，使其非常适合集成到设备中。

太阳能板检测专用数码相机－太阳能电池检测相机,高灵敏致冷CCD相机

FastEQE 高速量子效率测试仪

Fast的测量速度，单次测量仅需要8秒钟，而传统的单色仪系统需要近8分钟才能完成相同的测量。节省时间节省空间节省工时节省成本测量太阳能电池量子效率的速度比其他任何系统快5900％专为太阳能电池的制造研发而制造

电致发光影像分析(Electroluminescence, EL)

电致发光影像分析(Electroluminescence, EL)：大小裂痕(large and microcracks)、缺损(holes)、杂质(inclusion)、扩散深度(diffusion length)及接触或传导不良区域

标准太阳能电池 Reference Cells

PROVA-200太阳能电池分析仪

PROVA-200太阳能电池分析仪：单晶片I-V特性曲线测试 \r 可找出太阳能模组最大功率的工作点 (Vmaxp, Imaxp) \r 量测最大功率时 (Pmax) 的最大电压 (Vmaxp) 最大电流 (Imaxp) \r 量测开路电压 (Vopen) 与短路电流 (Ishort) \r 移动指标可显示I-V特性曲线每一点的特性值 \r 可选购携带式印表机将图形与特性值直接复制下来 \r 在标准光源下可直接显示太阳能电池的转换效率??％) 与FF值 \r 可以自动扫瞄或单点测试

光束诱导电流检测系统 LBIC

光束诱导电流检测系统 LBIC：LBIC mapping system( Light-Beam Induced Current，光束诱导电流检测系统)------是一种高分辨、非直接接触的分析手段，可以表征太阳能电池的几何结构信息、少子扩散长度等参数，以及量子效率，反射率分布表征，为太阳能电池优化结构提供参考依据，广泛应用到单晶硅、多晶硅、非晶硅、碲化镉、CIGS等各种传统或新型的太阳能电池的研究和生产。??????????麦????????????????????,

红外硅锭缺陷检测仪

红外硅锭缺陷检测仪：多晶硅铸锭过程中，由于原料，参杂，坩埚及温场控制等诸多原因会造成不同程度的缺陷产生，如：SIC颗粒，隐裂，空洞，微晶等。这些缺陷的存在不能制造合格的多晶硅太阳能电池片，而且对后道切片工艺危害极大。因为SIC硬度极高，会使线据断线。硅裂的存在会使硅片掉落，甚至损坏导轮。如何在不损伤硅块的前提下检测出这些缺陷，理论上有很多方法，如X光透视，超声波检测，红外投射等都是常用的方法，但综合考虑成本，工作环境，劳动保护，工作效率和操作便捷，红外投射的方法最合适。国内主要的大厂都有使

霍尔效应测试仪

霍尔效应测试仪：主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。 \r 除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用于太阳能电池片的制程辅助

Reference Cells

扩展电阻仪 (SRP)

SRP (Spreading Resistance Profiling) 扩展电阻测试系统是用一对专用的点接触探针，沿着样品表面以很小的增量步进，测出每一点的扩展电阻值，绘出样品的电阻、电阻率和掺杂浓度的分布曲线。利用SRP法不仅可以得到外延层的电阻率分布等电学性质，而且可以确定外延层的厚度和界面杂质的过渡区分布。

变温霍尔效应测试仪Hall8686

台湾SWIN公司生产的霍尔效应测试仪 (Hall Effect Measurement System)是性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪，在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知名度。本仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。 \r \r \r 除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用