__空间光调制器|波前测试仪|变形镜|激光器瞬渺

产品分类

应用分类

浏览过的商品

清除列表 | 查看所有

总共找到1339个商品

图文列表橱窗文字

价格销量人气

排序方式:

PROVA-200太阳能电池分析仪：单晶片I-V特性曲线测试 \r 可找出太阳能模组最大功率的工作点 (Vmaxp, Imaxp) \r 量测最大功率时 (Pmax) 的最大电压 (Vmaxp) 最大电流 (Imaxp) \r 量测开路电压 (Vopen) 与短路电流 (Ishort) \r 移动指标可显示I-V特性曲线每一点的特性值 \r 可选购携带式印表机将图形与特性值直接复制下来 \r 在标准光源下可直接显示太阳能电池的转换效率??％) 与FF值 \r 可以自动扫瞄或单点测试

Jandel通用型四探针测试仪 4探针测试系统（4 point probe measurement system)

IQE-SCAN 光谱量子效率

IQE-SCAN 光谱量子效率和反射该工具专为自动IQE分析而设计\r 晶体硅太阳能电池

光束诱导电流检测系统 LBIC

光束诱导电流检测系统 LBIC：LBIC mapping system( Light-Beam Induced Current，光束诱导电流检测系统)------是一种高分辨、非直接接触的分析手段，可以表征太阳能电池的几何结构信息、少子扩散长度等参数，以及量子效率，反射率分布表征，为太阳能电池优化结构提供参考依据，广泛应用到单晶硅、多晶硅、非晶硅、碲化镉、CIGS等各种传统或新型的太阳能电池的研究和生产。??????????麦????????????????????,

suns-Voc测试仪

suns-Voc测试仪:利用Suns-Voc进行浆料与烧结技术优化，主要测试IV曲线

太阳能产业探针台(Solar Cell 量测系统)

太阳能产业探针台(Solar Cell 量测系统)I-V /C-V Curve, Isc, Voc, \r Pmax, Imax, Vmax, RS, Fill Factor,\r Power Convert Efficiency\r 采用KEITHLEY Source Meter\r 可加配任意品牌之太阳光模拟器

3S探针台手动探针台自动探针台

3S探针台：3S提供多种用途探针台，包括：晶圆探针台、平板(LCD/OLED)探针台、RF探针台、LD/PD探针台、高低温探针台、表面电阻率探针台(四探针台）、霍尔效应探针台、客户订制探针台；提供探针台部件，包括：长工作距离显微镜、防震桌、屏蔽箱、探针座及各种探针、高温卡盘、探针卡、RF探头、适配器、线缆；已有探针台的升级

红外硅锭缺陷检测仪

红外硅锭缺陷检测仪：多晶硅铸锭过程中，由于原料，参杂，坩埚及温场控制等诸多原因会造成不同程度的缺陷产生，如：SIC颗粒，隐裂，空洞，微晶等。这些缺陷的存在不能制造合格的多晶硅太阳能电池片，而且对后道切片工艺危害极大。因为SIC硬度极高，会使线据断线。硅裂的存在会使硅片掉落，甚至损坏导轮。如何在不损伤硅块的前提下检测出这些缺陷，理论上有很多方法，如X光透视，超声波检测，红外投射等都是常用的方法，但综合考虑成本，工作环境，劳动保护，工作效率和操作便捷，红外投射的方法最合适。国内主要的大厂都有使

太阳能电池激光划片机

太阳能电池激光划片机：·应用领域\r \r 太阳能光伏行业中，单晶硅、多晶硅及非晶硅太阳能电池片和硅片的划片加工。 \r \r ·产品特点\r \r 采用氪灯泵浦（YAG）激光器，采用声光调制系统、数控X-Y运动工作台及步进电机驱动；\r \r 系统采用国际流行的模块化设计，关键部件均采用进口产品；\r \r 设备高可靠、高精度、高效率；\r \r 软件升级至3.0版且安装移机简单方便； \r \r 高精度一体化恒温循环水冷；长时间运行稳定可靠；

霍尔效应测试仪

霍尔效应测试仪：主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。 \r 除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用于太阳能电池片的制程辅助

光伏电池板检测显微镜

光伏电池板检测显微镜|研究型大平台三目正置式金相显微镜：SDMM-4000C(无穷远光学设计)

Spectroradiometer

Portable I-V Testers for PV Modules

Solar Simulator Uniformity Mapper

Spectral Response / Quantum Efficiency / IPCE Measurement System

Reference Cells

扩展电阻仪 (SRP)

SRP (Spreading Resistance Profiling) 扩展电阻测试系统是用一对专用的点接触探针，沿着样品表面以很小的增量步进，测出每一点的扩展电阻值，绘出样品的电阻、电阻率和掺杂浓度的分布曲线。利用SRP法不仅可以得到外延层的电阻率分布等电学性质，而且可以确定外延层的厚度和界面杂质的过渡区分布。

半导体行业专用CDE ResMap 四点探针

CDE　ResMap–CDE　公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的

变温霍尔效应测试仪Hall8686

台湾SWIN公司生产的霍尔效应测试仪 (Hall Effect Measurement System)是性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪，在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知名度。本仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。 \r \r \r 除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用