__空间光调制器|波前测试仪|变形镜|激光器瞬渺

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PL成像检测系统（光致发光成像检测系统）

澳大利亚BT Imaging公司 R3&R2-Plus PL成像检测系统（光致发光成像检测系统）

太阳能板检测专用数码相机－太阳能电池检测相机,高灵敏致冷CCD相机

FPS-300闪光电源

The FPS-300 is a new flash power supply designed to replace the Quantum power supply stack and flash\r head.

LETO-3 纯相位空间光调制器

LETO-3 纯相位空间光调制器基于液晶微显示技术，分辨率可达1920x1080像素。像元大小6.4μm、间距0.2μm，LETO-3SLM提供93%的高效填充因子从而有较高的光利用率。

海德堡μMLA无掩膜光刻机

μMLA 是海德堡推出的新一代桌面式激光直写系统，专为高校、科研院所及微纳制造领域设计。它彻底摒弃了传统的物理光掩模，利用二维空间光调制器 (SLM) 直接将设计图形曝光在光刻胶上。该系统集成了公司数十年的直写光刻工艺经验，不仅具备卓越的科研级精度，更以桌面式的小巧体积和极高的灵活性，成为微纳米结构制造中不可或缺的工具。

FastEQE 高速量子效率测试仪

Fast的测量速度，单次测量仅需要8秒钟，而传统的单色仪系统需要近8分钟才能完成相同的测量。节省时间节省空间节省工时节省成本测量太阳能电池量子效率的速度比其他任何系统快5900％专为太阳能电池的制造研发而制造

电致发光影像分析(Electroluminescence, EL)

电致发光影像分析(Electroluminescence, EL)：大小裂痕(large and microcracks)、缺损(holes)、杂质(inclusion)、扩散深度(diffusion length)及接触或传导不良区域

太阳能电池影像光谱色差检测系统(Hyperspectral Imaging System)

太阳能电池专用红外热像仪Infrared Thermal imager

电池和组件缺陷视测 Photovoltaic Cell Inspection System

少子寿命测量仪BLS-测试硅棒

少子寿命测量仪BLS-I 用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量，除需要有一个测量平面外，对样块\r \r 体形无严格要求，可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体\r \r 内重金属杂质污染及缺陷存在的情况，是单晶质量的重要检测项目。

Spectral Response / Quantum Efficiency / IPCE Measurement Systems

日本KOSAKA 台阶仪ET200：KOSAKA ET 200基于Windows XP操作系统为多种不同表面提供全面的形貌分析，包括半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石（钻石）****接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用。ET 200能精确可靠地测量出表面台阶形貌、粗糙度、波纹度、磨损度、薄膜应力等多种表面形貌技术参数。