光矢量分析仪

波长范围	1265~1335nm 或 1525~1610nm
波长分辨率	1.6pm
波长精度	±1.5pm
波长重复性	±0.1pm
光相位误差	±0.05rad
损耗测量动态范围	60dB
损耗测量文波	±0.05dB
损耗测量分辨率	±0.05dB
插损测量精度	±0.1dB
回损测量精度	±0.2dB
色散测量精度	±10ps/nm
群时延测量范围	6ns
群时延测量精度	±0.2ps
群时延损耗范围	45dB
PMD测量范围	6ns
1阶PMD测量精度	±0.03ps（100pm 步长） ±0.15ps（30pm 步长）
2阶PMD测量精度	±10ps2
PMD损耗范围	40dB
PDL测量范围	40dB
PDL测量精度	±0.05dB
激光器扫描速度	70nm/s
全参数测量速度	30ms/nm
实时测量刷新速率	1Hz
最大器件测试长度（透射测量）	150m
最大器件测试长度（反射测量）	75m
重量	16.24kg
尺寸	473 ×420×206mm

产品简介：

光矢量分析仪（OVA 5000）是目前业内速度最快、测量最准确、性价比最高的一款损耗、色散、偏振测量设备。只需要简单地将待测器件连接到设备上，通过一次激光扫描，即可完成诸多器件（如耦合器、特种光纤、FBG、AWG、滤波器、放大器等）的IL、RL、PDL、CD、PMD、GD全参数测量。该产品凭借其全参数、快速、高精度测量的绝对优势，击败了所有竞争对手，2002～2005年，连续4年获得FROST & SULLIVAN大奖。该产品一机多用，大大降低了成本，是无源器件、光模块产品研制和生产的首选测量仪器。

产品特性：

■ 单次扫描，即可完成IL、RL、PDL、CD、PMD、GD的全参数测量

■ 3s即可完成器件在 C+L 波段的特性测量

■ 器件长度最长达150m

■ 测量分辨率高

■ 波段范围：C、C+L、O 波段

■ 测量速度快，能够实时监测并调整元器件

■ 体积小，综合性价比高

应用领域：

■ 光无源器件测量

■ 生物医疗

■ 光模块产品研制和生产