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少子寿命测试仪 WCT-120测试硅片  
少子寿命测试仪 WCT-120测试硅片
美国Sinton WCT-120少子寿命测试仪采用了准稳定态光电导(QSSPC)测量方法和分析技术。可灵敏地反映单、多晶硅片的重金属污染及陷阱效应、表面复合效应等缺陷情况。WCT在效率大于20%的超高效太阳能电池(HIT,MWT,EWT,PREL,等等)的研发和生产过程中是一种被广泛选用的检测工具。这种QSSPC测量少子寿命的方法可以在电池生产的中间任意阶段得到一个类似光照IV曲线的开压曲线,可以结合最后的IV曲线对电池制作过程进行数据监控和参数优化等工作。
CDE ResMap 四点探针 (ResMap 178)4探针测试系统(电阻率,面电阻)  
CDE ResMap 四点探针 (ResMap 178)4探针测试系统(电阻率,面电阻)
CDE ResMap 四点探针 (ResMap 178) CDE 提供自动计算机量测的四点探针阻值量测机台。快速,精确与软件控制下针、软件功能可最佳化下针压力,即使薄片量测也不易破裂。自动清针(Probe Conditioning);动作,双针头切换。太阳能使用可支持自动Loader,300mm 机台可使用Front End,最多扩充3个量测单元,支持Semi标准接口。
少子寿命测量仪 BCT-400测试硅锭  
少子寿命测量仪 BCT-400测试硅锭
少子寿命测量仪BCT-400测试硅锭BCT-400 BCT-400测量系统不需要做表面钝化就能直接测量单晶和多晶硅(锭或块)的少子寿命. 因为少子寿命作为衡量生长和缺陷含量的的最敏感的技术参数,这个工具直接获得长硅的质量参数。
光伏专用电化学ECV 掺杂浓度检测 电化学CV分布仪(CV测试仪)电化学CV剖面分析仪 电化学CV载流子浓度  
光伏专用电化学ECV 掺杂浓度检测 电化学CV分布仪(CV测试仪)电化学CV剖面分析仪 电化学CV载流子浓度
光伏专用电化学ECV 掺杂浓度检测 电化学CV分布仪(CV测试仪)电化学CV剖面分析仪 电化学CV载流子浓度
四探针 四点探针 四探针测试仪 四探针太阳能硅片电阻率测试仪  四探针 四点探针 四探针测试仪 四探针太阳能硅片电阻率测试仪  
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