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SM303 TE制冷背照式CCD光谱仪
 
   
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SM303 TE制冷背照式CCD光谱仪

SP提供的SM245是一款像素高达2048的高速CCD光谱仪。电路设计的提升,使得该光谱仪的暗噪声和探测速度一样得到了提升。这方面的性能提升更加适合在光谱和色度测量方面的应用。

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SM303 TE制冷背照式CCD光谱仪

SM303——为微弱光谱探测量身打造

对于更加微弱的光谱信号,需要灵敏度更高的探测器。SP推出的SM303 采用1024像素的TE制冷型背照式CCD探测器。背照式CCD具有很高的信噪比和动态范围,背照式CCD探测范围在200-1050nm,同时在紫外波段具有优秀的感光度。光谱范围和分辨率还可以根据用户需求进行调整。TE制冷使得探测器暗噪声大幅降低,增加了光谱仪的探测灵敏度,更适合探测非常微弱的光信号。另外,高的动态范围也使得SM303可以用于光辐射度测量方面。

在硬件配置方面,SM303采用使用范围最广泛的16bit精度的USB 1.1/2.0。随机附带的操作软件SM32Pro Windows易学易用,配有SKD和DLLs,用户也可根据需要进行二次开发。

产品特点

高性价比,科研级性能,只售$11,795

低噪声,低杂散光

高信噪比和较好的动态范围

高紫外增强探测器

灵活的光学输入,狭缝和光纤可选

高速获得数据

波长范围覆盖200-1050 nm

为弱光条件新升级的自动快门

主要参数

型号

SM303

探测器

Hamamatsu S7031-1006 TE制冷背照式CCD

像素:1024×58

像元:24μm×24μm

阱深:300Ke-(Vertical),600 Ke-(Horizontal)

量子效率:>90% @650nm, 65% @250nm

灵敏度:~0.065 counts/e-

制冷:一级TE制冷,-10℃

光谱范围

200-1050 nm

分辨率

0.15 to 10nm(取决于光栅和狭缝)

杂散光

<0.01% at 632nm (<0.05% Ave)

F/#

3.3

暗噪声rms

< 7 counts in 16bit @35ms

信噪比

>1000: 1

最小积分时间

7 ms

数据接口

USB 1.1/2.0 16 bit

光纤接口

SMA905/FC

触发模式

自由运行模式

软件触发模式

硬件触发:(9-pin connector): TTL边缘触发输入/数字输出

软件

SM32Pro (free with spectrometer)
Includes DLL libraries and SDKs for easy custom application development

尺寸

9.13 H× 5.12L × 3.56 D inch.

重量

7 lbs.

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